武汉优光科技有限责任公司李学雷获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉优光科技有限责任公司申请的专利一种平面度检测装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222912672U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421991903.6,技术领域涉及:G01B11/30;该实用新型一种平面度检测装置是由李学雷;贺鹏;司光慈;李斌;肖志全设计研发完成,并于2024-08-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种平面度检测装置在说明书摘要公布了:本实用新型公开一种平面度检测装置,包括工装台和干涉仪,所述工装台上通过紧固件一可拆卸的设置有若干定位夹具,所述定位夹具上设置有用于压紧待测试块体外圈的压紧件,所述待测试块体的底面设置有若干定位支撑块,所述定位支撑块安装在工装台的顶面,所述定位支撑块与压紧件位置对应,所述工装台上设置有用于与待测试块体侧面配合的若干定位销,所述干涉仪的物镜正对待测试块体;本实用新型有着测试方便、精度高、成本低的优点。
本实用新型一种平面度检测装置在权利要求书中公布了:1.一种平面度检测装置,其特征在于,包括工装台和干涉仪,所述工装台上通过紧固件一可拆卸的设置有若干定位夹具,所述定位夹具上设置有用于压紧待测试块体外圈的压紧件,所述待测试块体的底面设置有若干定位支撑块,所述定位支撑块安装在工装台的顶面,所述定位支撑块与压紧件位置对应,所述工装台上设置有用于与待测试块体侧面配合的若干定位销,所述干涉仪的物镜正对待测试块体。
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