北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司雷黎丽获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司申请的专利芯片综合算力测试方法、电子设备、存储介质及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118152237B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311873384.3，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权芯片综合算力测试方法、电子设备、存储介质及装置是由雷黎丽;马春雷设计研发完成，并于2023-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片综合算力测试方法、电子设备、存储介质及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片综合算力测试方法、电子设备、存储介质及装置。该方法包括：将数据库车辆传感器的路测场景数据传输到芯片，并基于综合算力算法模型进行芯片综合算力测试；基于芯片的数据流向及处理逻辑，获取芯片算力影响因子；基于数据回灌方式将路测场景数据重新导入芯片，在其他芯片算力影响因子保持不变的情况下计算每个芯片算力影响因子处于不同状态时对应的芯片综合算力以及对综合算力的影响值；基于影响值、芯片算力影响因子和芯片综合算力建立芯片综合算力估算模型；基于芯片综合算力估算模型对芯片进行评估。本发明通过数据回灌的方式对单个芯片算力影响因子在不同状态下的的芯片综合算力进行测试，提高了测试的准确性、可靠性。
本发明授权芯片综合算力测试方法、电子设备、存储介质及装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片综合算力测试方法，其特征在于，包括：基于传感器与芯片的数据接口将数据库车辆传感器的路测场景数据传输到芯片，并基于综合算力算法模型进行芯片综合算力测试；基于所述测试过程中所述芯片的数据流向及处理逻辑，分析在所述芯片的AI加速单元占用率达到极限时影响芯片综合算力的芯片算力影响因子；基于数据回灌方式将所述路测场景数据重新导入所述芯片，在其他所述芯片算力影响因子保持不变的情况下计算每个所述芯片算力影响因子处于不同状态时对应的芯片综合算力；基于所述芯片综合算力和所述芯片的理论综合算力计算每个所述芯片算力影响因子处于不同状态时对所述综合算力的影响值；基于所述影响值、所述芯片算力影响因子和所述芯片综合算力建立芯片综合算力估算模型；基于待估算芯片的硬件配置和应用场景需求确定各所述芯片算力影响因子的状态，进而基于所述芯片综合算力估算模型计算各所述芯片算力影响因子对应的所述待估算芯片的实际芯片综合算力。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司，其通讯地址为：100176 北京市大兴区泰河三街9号院国盛高新科技工业园1号楼10层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号