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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116295114B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310195331.4，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法是由林斌;周朋设计研发完成，并于2023-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法。基于高反射表面反光特性，建立一个主辅双视角结构光三维重建系统。通过额外引入一个辅助重建视角，使得单次投影重建过程中可避开由于镜面反射造成的图像过曝，在主重建视角下图像过曝的区域，采用辅助视角下的图像重建进行补偿，实现在单次视角下重建更多的点，提升测量速度及效率，同时采用共用同一投影仪的方式也很好的节约了硬件成本，结合多灰度级投影方法，通过逐级降低投影强度，对在主辅双视角下均过曝的点进行重建，进而重建出完整的高反射表面，同时提出了一种双视角下过曝点判别方法，以此判别该点是否在主辅视角下均过曝。

本发明授权一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于主辅双视角多灰度级投影的高反射表面结构光三维测量方法，其特征在于，包括：搭建主辅双视角结构光重建系统；对结构光重建系统进行标定，获取主视角相机（4）、辅助视角相机（5）及投影仪（3）内外参数矩阵；投影一张均匀灰度图像至待测物体（6）表面，主视角相机（4）和辅助视角相机（5）同时采集一张图像，对图像进行二值化后得到主视角相机（4）和辅助视角相机（5）的过曝掩膜；投影结构光正弦相移条纹至待测物体（6）表面，利用相移法解相位获取主视角相机（4）和辅助视角相机（5）视角下对应物体表面的绝对相位，通过获取的主视角相机（4）、辅助视角相机（5）内参矩阵、投影仪（3）内参矩阵和主视角相机（4）、辅助视角相机（5）、投影机的外参矩阵计算为辅助视角相机（5）的过曝掩膜中过曝区域像素点的空间三维坐标，利用主视角相机（4）内外参矩阵将辅相机未过曝区域中的像素点对应的三维空间点重投影至主视角相机（4）图像过曝掩膜中，获得总体过曝判断掩膜；对总体过曝判断掩膜进行去重复处理，得到余下点对应的三维重建点云；判断余下点对应的三维重建点是否还存在过曝点未处理，若存在则降低投影强度并重复上述投影采集流程并计算对应强度下的各过曝掩膜，对未过曝点进行重建并存储结果，若不存在则说明全部过曝点均已完成重建；将存储的各投影强度下三维重建点云合并，输出最终重建结果。

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