武汉大学黄声享获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利基于局域气象场模型的大气垂直折光改正方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119294052B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411301284.8，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于局域气象场模型的大气垂直折光改正方法及装置是由黄声享;马志伟;张文设计研发完成，并于2024-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于局域气象场模型的大气垂直折光改正方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及精密工程智能监测技术领域，特别涉及一种基于局域气象场模型的大气垂直折光改正方法及装置，其中，方法包括：基于目标测站内测点的初始气象数据和受到大气垂直折光影响的测量数据得到时间相匹配的气象数据；基于气象数据和包含目标测站及测点的DEM数据，构建局域气象场模型；结合测距光径曲线所在剖面内的模型数据，确定折射率剖面结构所在位置；结合snell定律和折射率剖面结构，对测量数据进行大气垂直折光改正，得到减弱大气垂直折光影响的平距及高差，进而得到精度更高的测点三维坐标。由此，解决了相关技术中，在复杂的大气环境下，测点水平及竖直位移监测精度较低，无法在实际监测环境下使用，难以获得高精度的监测和预警结果等问题。
本发明授权基于局域气象场模型的大气垂直折光改正方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于局域气象场模型的大气垂直折光改正方法，其特征在于，包括以下步骤：获取目标测站内测点的初始气象数据和受到大气垂直折光影响的测量数据，并基于所述初始气象数据和所述测量数据，确定所述初始气象数据的测量时间和所述测量数据的测量时间中满足预设匹配时间的气象数据；基于所述满足预设匹配时间的气象数据和包含所述目标测站及所述测点的数字高程模型DEM数据，构建包含所述目标测站及所述测点的局域气象场模型；结合所述测量数据和测距光径曲线所在剖面内的局域气象场模型数据，确定折射率剖面结构所在位置，其中，所述折射率剖面结构由至少一层的折射率层组成，且不同折射率剖面结构的层厚度不同；结合snell定律和所述折射率剖面结构，对所述测量数据进行大气垂直折光改正，得到减弱大气垂直折光影响的平距及高差，并基于所述平距和所述高差得到精度更高的所述测点的三维坐标。
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