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龙图腾网恭喜山东华宇工学院申请的专利一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119958998B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510450360.X，技术领域涉及：G01N3/08；该发明授权一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备是由王珂晟;周越松设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备，涉及半导体芯片技术领域，包括底座，拉力检测机构，所述拉力检测机构包括第一固定座和拉力传感器，所述第一固定座共有两个且分别通过螺栓固定套接在位于前端的两根支撑柱上，所述拉力传感器共有两个分别通过螺栓固定安装在两个第一固定座与活动框之间。本发明驱动活动框下降配合拉力传感器实现一次性对多个引脚同时进行拉力质量检测，不仅减轻人工劳动强度，而且同时下拉引脚进行检测，对引脚施加的力相同，使得检测数据可靠性得到提高，通过控制往复杆平移且伸缩，以实现对半导体芯片引脚的弯曲质量检测，不仅提高了检测数据的准确度，还有效地提高了半导体芯片引脚质量检测效率。

本发明授权一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备在权利要求书中公布了：1.一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备，包括底座（1），所述底座（1）的顶端四角通过螺栓固定安装有支撑柱（2），其特征在于：芯片放置机构（3），所述芯片放置机构（3）包括支撑座（303）和放置柱（304），所述支撑座（303）共有两个且分别活动设置在四根支撑柱（2）的内部左、右侧，所述放置柱（304）共有两组且每组两根，且分别固定安装在两个支撑座（303）的前、后顶端；芯片固定机构（4），所述芯片固定机构（4）包括升降板（401）和下压块（402），所述升降板（401）共两块且两端分别活动套接在四根支撑柱（2）上；引脚夹持机构（5），所述引脚夹持机构（5）包括活动框（501），所述活动框（501）活动设置在位于前端的一组放置柱（304）外；拉力检测机构（6），所述拉力检测机构（6）包括第一固定座（601）和拉力传感器（602），所述第一固定座（601）共有两个且分别固定套接在位于前端的两根支撑柱（2）上，所述拉力传感器（602）共有两个分别固定安装在两个第一固定座（601）与活动框（501）之间；弯曲检测机构（7），所述弯曲检测机构（7）包括支撑架（706）、往复杆（714）和压力传感器（715），所述支撑架（706）共有两个且分别活动设置在位于后端的两个放置柱（304）两侧，所述往复杆（714）共有两根且分别活动安装在两个支撑架（706）靠近放置柱（304）的一端，所述压力传感器（715）共有两个且分别固定设置在两根往复杆（714）靠近放置柱（304）的一端内。

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