武汉标进科技有限公司许雪飞获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉标进科技有限公司申请的专利一种芯片验证方法和芯片验证设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119337815B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411306585.X，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种芯片验证方法和芯片验证设备是由许雪飞设计研发完成，并于2024-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片验证方法和芯片验证设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种芯片验证方法和芯片验证设备，涉及芯片验证技术领域。本申请可基于用户考量各种因素自定义出的测试项内容，自适应地生成多个随机输入参数测试用例，来对待量产芯片进行覆盖测试，并按照用户需求地基于芯片测试结果数据进行芯片数据分析，以迅速推导出待量产芯片在正式量产时所需的最优输入参数分布数据，达到快速找出芯片在安全、环保和节能等层面的最优输入设置的效果，同时有效降低对芯片测试人员的相关要求，并降低芯片验证过程中的人力损耗。
本发明授权一种芯片验证方法和芯片验证设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取用户针对待量产芯片配置的测试项定义文件，所述测试项定义文件包括与目标测试项参数类型匹配的至少一种芯片输入参数的数值分布范围和数值覆盖率，以及与所述目标测试项参数类型匹配的芯片输出参数类型；根据所述数值覆盖率和所述至少一种芯片输入参数的数值分布范围，生成多个随机输入参数测试用例，并获取所述多个随机输入参数测试用例分别在所述待量产芯片的多个样品芯片上试运行后的与所述芯片输出参数类型对应的芯片测试结果数据；对获取到的芯片测试结果数据进行数据预处理，得到并展示待分析结果数据；根据所述待分析结果数据和所述多个随机输入参数测试用例，按照用户指定的分析目标针对所述待量产芯片进行芯片数据分析，得到并展示所述待量产芯片的所述至少一种芯片输入参数在实现所述分析目标时的期望分布结果，其中所述期望分布结果用于表示所述至少一种芯片输入参数在确保所述待量产芯片的多颗成品芯片均稳定运行时的最优输入参数分布数据。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉标进科技有限公司，其通讯地址为：430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区康魅路1号金地·褐石庄园一期7栋1单元3-4层01室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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