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龙图腾网恭喜同济大学申请的专利一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119245502B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411278097.2，技术领域涉及：G01B9/02055；该发明授权一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的系统及方法是由程鑫彬;邓晓;林子超;薛栋柏;冯婧桐;顿雄;何春伶;解钰莹;李同保设计研发完成，并于2024-09-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的系统及方法，属于空气折射率测量技术领域。本发明采用上述的一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的系统及方法，采用光栅作为位移测量基准，避免了空气因素对测量数据的干扰，在相同测量环境下比用激光波长作为基准的激光干涉仪更稳定，测得的数据可比性更高，测量重复稳定性更大。避免了传统依赖于大量环境传感器如温度、湿度、气压传感器的校准方法，简化校准过程，提高校准效率，校准过程与测量过程并行进行，无需中断测量执行独立的校准操作。在动态变化的测量环境中，能够即时调整校准参数以响应环境的波动，确保测量数据的精确性和可靠性。

本发明授权一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于自溯源光栅干涉仪校准空气折射率的方法，其特征在于：包括自溯源光栅干涉仪，所述自溯源光栅干涉仪上的光源折射到纳米位移台一上的零膨胀玻璃上，纳米位移台一与反射镜相连，再通过反射镜形成影响激光干涉仪标准波长的测量光路与纳米位移台二连接； 校准空气折射率的方法包括以下步骤： S1、自溯源光栅周期方向与反射镜测量轴方向按照阿贝原则对准后，固定在纳米位移台一上，上位机控制器发出测量指令，驱动承载自溯源光栅和反射镜的纳米位移台一进行精确位移； S2、自溯源光栅干涉仪以及激光干涉仪按照Nyquist采样定理对纳米位移台一上的位移信号进行采样，并提取干涉相位； 在步骤S2中，上位机根据Nyquist采样定理，以特定频率进行信号采样，并通过信号处理算法将干涉信号转化为位移信号，得出自溯源光栅干涉仪和激光干涉仪的相位与位移之间的关系如下所示： 其中，表示光栅间距，代表细分倍数，表示空气折射率，表示空气中的激光波长，而是真空中的激光波长；表示自溯源光栅干涉仪的相位变化，表示激光干涉仪的相位变化，表示纳米位移台一的位移变化量； S3、以自溯源光栅干涉仪的位移测量结果为基准，计算激光干涉仪在测量路径上的等效波长； 在步骤S3中，位移测量基准为自溯源光栅的周期，利用光栅移动的多普勒效应产生的两束光的频差，经过合束产生干涉测量信号，基于光栅周期量将信号转换为位移量，从而实现微纳尺度测量的干涉仪； S4、将激光干涉仪光源的标准波长与等效波长的比值作为激光干涉仪测量路径上的平均空气折射率； 在步骤S4中，平均空气折射率计算方法为将激光干涉仪光源的标准波长与以自溯源光栅为基准测得的激光干涉仪测量路径上的等效波长进行比值，测得测量路径的平均空气折射率。

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