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龙图腾网获悉合肥盛源半导体有限公司申请的专利一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118962371B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411086068.6，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备是由陈嘉晖;刘雯设计研发完成，并于2024-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体检测技术领域，尤其涉及一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备，所述具有辐射干扰结构的半导体检测设备包括立柱、辐射干扰腔、齿环、上料部件和检测部件，所述辐射干扰腔固定连接在所述立柱上端，所述齿环转动连接在所述辐射干扰腔内，所述齿环开设有呈环形阵列设置的多个凹槽，多个所述凹槽内侧壁上分别固定连接有托盘，本发明中拨动板就会推动新的半导体重新这一组放置板进行上料，从而实现竖板利用放置板对托盘上料，而拨动板能够对放置板进行上料，因此自动对托盘不断的上料作用。

本发明授权一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备在权利要求书中公布了：1.一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备，其特征在于，所述具有辐射干扰结构的半导体检测设备包括立柱（1）、辐射干扰腔（3）、齿环（41）、上料部件和检测部件，所述辐射干扰腔（3）固定连接在所述立柱（1）上端，所述齿环（41）转动连接在所述辐射干扰腔（3）内，所述齿环（41）开设有呈环形阵列设置的多个凹槽，多个所述凹槽内侧壁上分别固定连接有托盘（40）；所述辐射干扰腔（3）两侧均安装有储存腔（10），所述上料部件包括重力板（42）、浮力板（45）、竖板（13）、放置板（33）、放料组件和推动组件，两个所述储存腔（10）内均固定连接有隔板（7），所述重力板（42）设置有两个，且分别滑动连接在所述储存腔（10）内，所述重力板（42）位于所述隔板（7）其中一侧，所述浮力板（45）也设置有两个，且与所述重力板（42）配合使用，两个所述浮力板（45）分别滑动安装在所述储存腔（10）内且与所述重力板（42）对应位置的另一侧，两个所述竖板（13）上端分别滑动连接在所述重力板（42）上，所述竖板（13）的侧面上安装有多组放置板（33），每组所述放置板（33）数目为两个，同一组的两个所述放置板（33）之间固定连接有第四弹簧（34），所述上料组件用于将成批量的半导体依次的放置在所述托盘（40）上进行检测；所述放料组件包括齿轮（39）、套筒（38）、丝杆（37）、挡板（35）、方形腔（12）、输水腔（16）、扭转弹簧（36），所述套筒（38）固定连接在位于左侧所述储存腔（10）侧壁上，所述丝杆（37）转动连接在所述套筒（38）上，所述齿轮（39）固定连接在所述丝杆（37）下端，所述齿轮（39）与所述齿环（41）外侧壁啮合连接，所述方形腔（12）其中一端固定连通在位于左侧所述储存腔（10）上，所述挡板（35）其中一端滑动连接在所述方形腔（12）内，所述挡板（35）远离所述方形腔（12）的一端螺纹连接在所述丝杆（37）上端，所述扭转弹簧（36）固定连接在所述丝杆（37）上端与所述挡板（35）之间，所述输水腔（16）其中一端与所述方形腔（12）相连通，所述输水腔（16）远离所述方形腔（12）的一端与位于右侧的所述储存腔（10）相连通，所述重力板（42）与所述浮力板（45）之间固定连接有连接杆（9），所述连接杆（9）与所述储存腔（10）上壁滑动连接，利用外接水泵将位于右侧储存腔（10）内的水抽取至位于左侧储存腔（10）内；所述检测部件包括检测器（5）、安装架（8）、第一弹簧（6）、气压组件和驱动组件，所述安装架（8）固定连接在所述辐射干扰腔（3）上，所述检测器（5）滑动连接在所述安装架（8）一侧，所述第一弹簧（6）固定连接在所述安装架（8）顶端与所述检测器（5）之间，所述检测器（5）外侧壁上固定连接有半圆块（4），所述检测部件用于依次对所述托盘（40）上的半导体进行检测。

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