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恭喜株式会社堀场STEC志水彻获国家专利权

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龙图腾网恭喜株式会社堀场STEC申请的专利吸光分析系统、程序存储介质以及吸光度测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN111912798B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202010371573.0,技术领域涉及:G01N21/31;该发明授权吸光分析系统、程序存储介质以及吸光度测量方法是由志水彻;坂口有平;南雅和设计研发完成,并于2020-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。

吸光分析系统、程序存储介质以及吸光度测量方法在说明书摘要公布了:提供一种吸光分析系统,具备:检测器,对透过了气体的光的强度进行检测;总压传感器,测量气体的总压;干扰气体分压‑吸光度关系存储部,存储干扰气体分压‑吸光度关系数据;干扰气体分压推定部,基于由总压传感器测量出的总压来推定干扰气体的分压;干扰气体吸光度转换部,基于干扰气体分压‑吸光度关系数据,将由干扰气体分压推定部推定出的干扰气体推定分压转换为干扰气体的吸光度;测量对象气体吸光度计算部,基于检测器的输出值和由干扰气体吸光度转换部转换而得的干扰气体吸光度,来计算测量对象气体的吸光度。

本发明授权吸光分析系统、程序存储介质以及吸光度测量方法在权利要求书中公布了:1.一种吸光分析系统,其特征在于,具备: 光源,其对混合气体照射光,所述混合气体包括吸收预定的测量波长的光的测量对象气体以及干扰气体; 检测器,其对透过了所述混合气体的所述测量波长的光的强度进行检测; 总压传感器,其测量照射了光的所述混合气体的总压; 干扰气体分压-吸光度关系存储部,其存储干扰气体分压-吸光度关系数据,所述干扰气体分压-吸光度关系数据表示被包含于所述混合气体中的干扰气体的分压与所述测量波长的所述干扰气体的吸光度之间的关系; 干扰气体分压推定部,其基于由所述总压传感器测量出的总压来推定照射了光的所述混合气体中的所述干扰气体的分压; 干扰气体吸光度转换部,其基于所述干扰气体分压-吸光度关系数据,将由所述干扰气体分压推定部推定出的干扰气体推定分压转换为所述测量波长的所述干扰气体的吸光度;以及 测量对象气体吸光度计算部,其基于所述检测器的输出值和由所述干扰气体吸光度转换部转换而得的干扰气体吸光度,来计算所述测量波长的所述测量对象气体的吸光度, 基于由所述总压传感器测量出的总压来推定所述干扰气体的分压为以下任一种情况:将由所述总压传感器测量出的总压推定为所述干扰气体的分压;以及基于由所述总压传感器测量出的总压以及预测出的所述干扰气体的浓度来推定所述干扰气体的分压。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人株式会社堀场STEC,其通讯地址为:日本京都府京都市;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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