恭喜新华三半导体技术有限公司胡卓获国家专利权
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龙图腾网恭喜新华三半导体技术有限公司申请的专利一种多核芯片仿真测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111695314B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010363204.7，技术领域涉及：G06F30/3308；该发明授权一种多核芯片仿真测试方法及装置是由胡卓设计研发完成，并于2020-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多核芯片仿真测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种多核芯片仿真测试方法及装置，本发明由主核建立用于绑定和调度从核的节点数据结构，在节点数据结构中包括从核位图和功能程序的程序入口，从核位图指示与该节点数据结构对应的功能程序绑定的从核。从核轮询节点数据结构，当判定从核位图中该从核对应的标志位被置位时，运行节点数据结构对应的功能程序。本发明通过裸转平台来加载不同的功能程序，可实现BM程序和功能程序相对独立地开发，且在仿真过程中可以使用一个裸转平台软件加载多个不同的功能程序进行芯片功能测试，提高仿真测试的效率。
本发明授权一种多核芯片仿真测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种多核芯片仿真测试方法，其特征在于，该方法包括： 主核启动后，建立一个或多个用于绑定和调度从核的节点数据结构，节点数据结构中包括从核位图和功能程序的程序入口，所述从核位图用于指示与该节点数据结构对应的功能程序绑定的从核； 从核启动后，轮询节点数据结构，当判定节点数据结构的从核位图中该从核对应的标志位被置位，则该从核基于该节点数据结构的程序入口运行对应的功能程序，当该从核对应的标志位未被置位，则该从核无需运行该节点数据结构对应的功能程序。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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