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龙图腾网获悉中国科学院电工研究所申请的专利一种超导匀场调控方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114720928B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210492842.8，技术领域涉及：G01R33/3815；该发明授权一种超导匀场调控方法是由王耀辉;王秋良设计研发完成，并于2022-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种超导匀场调控方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种超导匀场调控方法，所述方法能够准确地判定超导匀场线圈的电流方向和空间方位，并在此基础上应用高性能磁场拟合算法精确求解得到各超导匀场线圈的匀场电流，并据此对超导磁体进行匀场。除此之外，本发明提出了单个超导匀场线圈的逐步迭代匀场思路，作为整体匀场线圈初步匀场后的进一步深入匀场操作，单个超导匀场线圈的逐步迭代匀场方法能够有效减轻多线圈互作用耦合干扰，减小整体匀场线圈匀场操作的组合误差，从而显著提高超导磁体磁场均匀度。

本发明授权一种超导匀场调控方法在权利要求书中公布了：1.一种超导匀场调控方法，其特征在于，包括如下步骤： 第一步，逐个打开超导匀场线圈，通过加热超导开关来消除超导匀场线圈中的感应电流； 第二步，测量磁体中心区域中心轴上的磁场分布，以作为基础磁场，然后打开一个轴向超导匀场线圈，加载一定强度的电流后，闭合该轴向超导匀场线圈，再次测量磁体中心区域中心轴上的磁场分布，然后打开该轴向超导匀场线圈，退去该轴向超导匀场线圈内的电流，如此操作进行其他轴向超导匀场线圈的测量，接着测量磁体中心区域球面上的磁场分布，以作为基础磁场，然后打开一个径向超导匀场线圈，加载一定强度的电流后，闭合该径向超导匀场线圈，再次测量磁体中心区域球面上的磁场分布，然后打开该径向超导匀场线圈，退去该径向超导匀场线圈内的电流，如此操作进行其他径向超导匀场线圈的测量； 第三步，将测量得到的超导匀场线圈磁场和相应的基础磁场做差，得到超导匀场线圈的净磁场，所述超导匀场线圈至少包括一阶匀场线圈，即轴向Z1超导匀场线圈，径向X超导匀场线圈和径向Y超导匀场线圈，根据Z1超导匀场线圈的磁场方向确定Z坐标轴方向以及Z1超导匀场线圈的电流方向，根据X超导匀场线圈的磁场方向确定X坐标轴的方向以及X超导匀场线圈的电流方向，根据Y超导匀场线圈的磁场方向确定Y坐标轴的方向以及Y超导匀场线圈的电流方向，然后以Z坐标轴、X坐标轴、Y坐标轴组成的笛卡尔坐标系为基准，根据其余超导匀场线圈的净磁场方向确定相应的电流方向； 第四步，再次逐个打开超导匀场线圈，通过加热超导开关来消除超导匀场线圈中的感应电流，测量磁体中心区域球面上的磁场分布，以作为初始磁场，然后根据第三步判定得到的超导匀场线圈的电流方向和空间方位，利用超导匀场线圈单位电流产生的磁场分布乘以相应待求解的电流强度来对初始磁场进行拟合运算，将上述计算得到的电流强度通入所有超导匀场线圈并闭合超导匀场线圈，然后测量磁体中心区域球面上的磁场分布并评估磁场均匀度； 第五步，将第四步匀场后的磁体中心区域球面上的磁场分布作为初始磁场，进一步采用单个超导匀场线圈进行匀场，计算每个超导匀场线圈单独使用时的预期磁场均匀度，并对所有超导匀场线圈单独使用时的预期磁场均匀度进行比较，取最优预期磁场均匀度的超导匀场线圈进行磁场调控，将上述计算得到的电流强度通入该超导匀场线圈并闭合该超导匀场线圈，然后测量磁体中心区域球面上的磁场分布，如此操作逐个进行其余的超导匀场线圈的磁场调控计算与测试，直至将磁场均匀度提升至最高水平。

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