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龙图腾网获悉合肥埃科光电科技股份有限公司申请的专利一种基于像素块匹配的坏点矫正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114245103B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111432146.X，技术领域涉及：H04N17/00；该发明授权一种基于像素块匹配的坏点矫正方法及系统是由沈曦;邵云峰;曹桂平设计研发完成，并于2021-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于像素块匹配的坏点矫正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于像素块匹配的坏点矫正方法及系统，包括：获取待矫正的图像，选择包含坏点的像素块作为坏点像素块；将所述坏点像素块在待矫正图像中进行按序平移，得到与坏点像素块同大小的多个平移像素块；分别计算坏点像素块与每个平移像素块中有效像素点的相关系数，得到每个平移像素块对应的像素点相关值，所述有效像素点为除了坏点的像素点；对同一平移像素块相对于坏点像素块的像素点相关值求和，得到像素相关系数；将像素相关系数最大值所在平移像素块的坏点像素替代坏点像素块中的坏点像素，以对坏点进行矫正；该矫正方法能够有效处理图像在位于图像平坦区域和边缘区域的坏点，同时计算流程简单，计算量适中。

本发明授权一种基于像素块匹配的坏点矫正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于像素块匹配的坏点矫正方法，其特征在于，包括： 获取待矫正的图像，选择包含坏点的像素块作为坏点像素块； 将所述坏点像素块在待矫正图像中进行按序平移，得到与坏点像素块同大小的多个平移像素块，具体为： 选择以坏点px,y为中心、大小为k×k的像素块作为坏点像素块δpx,yk×k 将坏点像素块按照设定的滑窗长度和平移量进行平移，得到平移像素块； 平移像素块δ如下：δpx-l×s,y-u×sk×k 其中，px-l×s,y-u×s表示平移像素块的中心点，l表示水平方向上平移滑窗长度的个数，u表示竖直方向上平移滑窗长度的个数，s表示滑窗长度； 分别计算坏点像素块与每个平移像素块中有效像素点的相关系数，得到每个平移像素块对应的像素点相关值，所述有效像素点为除了坏点的像素点； 像素点相关值ri,j计算公式如下： ； 其中，px,yi,j表示坏点像素块中的有效像素点，px-l×s,y-u×si,j表示平移像素块中的有效像素点，i、j分别表示有效像素点偏离像素块中心的位置，k的取值为奇数，则有，，且i、j不同时为0； 对同一平移像素块相对于坏点像素块的像素点相关值求和，得到像素相关系数； 将像素相关系数最大值所在平移像素块的坏点像素替代坏点像素块中的坏点像素，以对坏点进行矫正，具体为： ； 其中，表示R最大时对应像素块的中心像素值。

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