深圳飞骧科技股份有限公司请求不公布姓名获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳飞骧科技股份有限公司申请的专利封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119827940B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510305180.2，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-03-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置在说明书摘要公布了：本发明涉及无线通讯技术领域，提供了一种封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置，可靠性测试方法包括以下步骤：S1、制备成染色剂；S2、将试验箱半密封且加热，保存相对湿度低于预设阈值，维持25‑40min；S3、对待测器件进行干燥化处理；S4、将染色剂通过加热管道蒸发至试验箱内，在1h内缓慢提高试验箱蒸汽压力至180‑210kPa，维持试验箱内的环境温度30min；S5、在试验箱测试预设测试时间后，在1h内缓慢降低试验箱蒸汽压力至常压，将待测器件从试验箱移出，对移出的待测器件进行外部染色路径分析与开盖分析，得出可靠性测试结果。本发明的封装器件的可靠性测试方法实验成本低，可靠性测试效果好。
本发明授权封装器件的可靠性测试方法及可靠性测试装置在权利要求书中公布了：1.一种封装器件的可靠性测试方法，其特征在于，所述可靠性测试方法包括以下步骤： S1、使用室温条件下电导率大于1MΩ·cm的去离子水，混入染色体搅拌均匀，制备成染色剂； S2、提供试验箱，所述试验箱设通孔并将所述试验箱半密封且加热至90-100℃，保持相对湿度低于预设阈值，维持25-40min； S3、通过将待测器件从所述通孔放入所述试验箱内，保持25-40min，对所述待测器件进行干燥化处理； S4、将所述染色剂通过加热管道蒸发至所述试验箱内，使所述试验箱内的相对湿度达到100%，温度达到120±2℃，在1h内逐渐提高所述试验箱内的蒸汽压力至180-210kPa，维持所述试验箱内的环境温度30min； S5、待预设测试时间后，在1h内逐渐降低所述试验箱内的蒸汽压力至常压，再将所述待测器件从所述试验箱内移出，对移出的所述待测器件进行外部染色路径分析与开盖分析，得出可靠性测试结果。
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