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龙图腾网获悉深圳锐视智芯科技有限公司申请的专利一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114778081B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210373397.3，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质是由张太永;万小芳;代政;查颖云;邓坚设计研发完成，并于2022-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。通过本申请方案的实施，采用多帧图像求平均值的方法可以排除单次测量造成的偶然误差，测试方法简单，图像滞留检测的准确度高，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效支持。

本发明授权一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种传感器测试方法，其特征在于，所述传感器测试方法包括： 控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的所述第一图像采集阶段、所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段； 获取所述N帧图像的平均灰度值，以及获取所述图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值； 基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数； 所述基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数的步骤，包括： 将所述平均灰度值以及所述目标灰度值输入至预设图像滞留计算公式，计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数；所述图像滞留计算公式表示为：Ilag=ulag-udarkk； 其中，Ilag表示所述图像滞留参数，ulag表示所述目标灰度值，udark表示所述平均灰度值，k表示所述APS图像传感器的系统增益常数。

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