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龙图腾网获悉上海季丰电子股份有限公司申请的专利PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统、方法和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114636919B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210295130.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统、方法和电子设备是由海淼;倪卫华;郑朝晖设计研发完成，并于2022-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统、方法和电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统、方法和电子设备，涉及芯片测试的技术领域，包括上位机、测试母板和多个衰减子板；本发明提供的PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统，通过母板和子板相结合的方式可搭建出多通道和多梯度的衰减链路，测试母板引出待测PCIE控制芯片的差分信号线，并把衰减回路的设计转移到衰减子板中，通过更换子板插槽上插接的衰减子板实现不同衰减梯度的切换。与使用芯片测试专板完成PCIE差分信号链路的多梯度衰减设计相比，本发明提供的测试系统能够有效地降低PCB设计难度，缩短了芯片测试周期，从而快速地响应用户需求，并且衰减子板的复用还能进一步地降低测试成本。

本发明授权PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统、方法和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种PCIE差分信号链路的多梯度衰减测试系统，其特征在于，包括：上位机、测试母板和多个衰减子板；其中，所述测试母板上设置有待测PCIE控制芯片和子板插槽，每个所述衰减子板可活动插接于所述子板插槽上；每个所述衰减子板用于提供一种预设插入损耗；通过更换子板插槽上插接的衰减子板实现不同衰减梯度的切换； 所述上位机与所述待测PCIE控制芯片相连接；所述待测PCIE控制芯片的差分发送端与所述子板插槽的差分接收端一一对应连接；每个所述衰减子板的测试输入端与所述子板插槽的差分接收端一一对应； 所述待测PCIE控制芯片的差分接收端与所述子板插槽的差分发送端一一对应连接；每个所述衰减子板的测试输出端与所述子板插槽的差分发送端一一对应； 所述上位机用于发送测试指令至所述待测PCIE控制芯片，以使所述待测PCIE控制芯片进入测试模式； 所述待测PCIE控制芯片用于在所述测试模式下通过自身差分发送端输出第一测试信号，以及接收自身差分接收端返回的第二测试信号，并将所述第二测试信号的交流参数的识别信息发送至所述上位机；其中，所述第二测试信号为所述第一测试信号经过当前插接于子板插槽内的目标衰减子板之后的返回信号； 所述上位机用于基于所述交流参数的识别信息确定所述待测PCIE控制芯片在目标插入损耗下的性能指标；其中，所述目标插入损耗为目标衰减子板所提供的插入损耗。

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