深空探测实验室(天都实验室)石晶晶获国家专利权
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龙图腾网获悉深空探测实验室(天都实验室)申请的专利适用于月表偏振光谱特性探测的自校准测量系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120063486B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510547221.9，技术领域涉及：G01J3/02；该发明授权适用于月表偏振光谱特性探测的自校准测量系统及方法是由石晶晶;甘红;赵凯;李思昱;元双玲;陈捷仁设计研发完成，并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本适用于月表偏振光谱特性探测的自校准测量系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种适用于月表偏振光谱特性探测的自校准测量系统及方法，属于光学探测领域，包括：沿入射光的传播方向，依次设置第一消色差14波片、多级波片、第二消色差14波片、分束棱镜和两块沃拉斯顿棱镜。本发明利用第二消色差14波片、分束棱镜和两块沃拉斯顿棱镜构成偏振相移单元。入射光经过第一消色差14波片和多级波片后将偏振信息调制在光谱维，偏振相移单元将调制光谱相位移动0°、180°、90°和270°，形成两对互补调制光谱。将多级波片旋转90°后进行二次测量。本发明利用两次测量的调制光谱可以实时提取多级波片相位延迟量，能够解决月表大温差导致测量系统温控波动而引起的多级波片延迟量偏移问题。
本发明授权适用于月表偏振光谱特性探测的自校准测量系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种适用于月表偏振光谱特性探测的自校准测量系统，其特征在于，包括沿入射光线传播方向依次设置的第一消色差14波片、多级波片、偏振相移单元、光栅光谱仪；第一消色差14波片的快轴与x轴平行；多级波片的快轴与x轴成45°夹角，并且多级波片可绕光轴旋转；偏振相移单元包括沿入射光线传播方向依次设置的第二消色差14波片、分束棱镜、第一沃拉斯顿棱镜、第二沃拉斯顿棱镜；第二消色差14波片的快轴与x轴平行；第一沃拉斯顿棱镜的两正交检偏角度分别与x轴平行和垂直；第二沃拉斯顿棱镜的两正交检偏角度分别与x轴成45°夹角和135°夹角。
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