天目山实验室;北京航空航天大学熊渊获国家专利权
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龙图腾网获悉天目山实验室;北京航空航天大学申请的专利基于菲涅尔透镜的高空间分辨率背景纹影测量系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064209B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510541898.1，技术领域涉及：G01N21/41；该发明授权基于菲涅尔透镜的高空间分辨率背景纹影测量系统及方法是由熊渊;李想;刘佳乐;王晋军设计研发完成，并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于菲涅尔透镜的高空间分辨率背景纹影测量系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于菲涅尔透镜的高空间分辨率背景纹影测量系统及方法，系统包括点光源、凹面镜、菲涅尔透镜、相机、图像采集处理系统和计算机。本发明采用背景纹影技术，基于光线在非均匀气体折射率环境中传播时发生偏折的原理，以点光源作为光源，置于凹面镜焦距处，光线经过凹面镜反射为平行光，平行光照射到喷射有随机散点作为背景图案的菲涅尔透镜后进入测试区域，光线由于测试区域内流场折射率变化而发生偏折，最终在相机成像，由计算机对拍摄的图像进行分析获得折射率数据。本发明解决了传统的背景纹影方案中每个散点散射锥形光束覆盖流场范围大，空间分辨率低的问题，实现了对流动折射率场的高空间分辨率测量。
本发明授权基于菲涅尔透镜的高空间分辨率背景纹影测量系统及方法在权利要求书中公布了：1.基于菲涅尔透镜的高空间分辨率背景纹影测量系统，其特征在于，包括点光源1、凹面镜2、菲涅尔透镜3、相机4、图像采集处理系统5和计算机6，点光源1置于凹面镜2的焦点处，相机4置于凹面镜2凹面的一侧，菲涅尔透镜3置于凹面镜2与相机4之间，相机4位于菲涅尔透镜3的焦点处，菲涅尔透镜3表面喷射有背景图案，待测流场7置于菲涅尔透镜3与相机4之间，相机4能以菲涅尔透镜3表面的背景图案为背景观测待测流场7，凹面镜2将点光源1的光线反射至菲涅尔透镜3，菲涅尔透镜3将光线透射至相机4，相机4与图像采集处理系统5连接，图像采集处理系统5与计算机6连接。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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