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龙图腾网获悉爱德万测试公司申请的专利测试布置、自动化测试设备、和用于测试包括天线的被测装置的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113661396B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201980095245.8，技术领域涉及：G01R31/302；该发明授权测试布置、自动化测试设备、和用于测试包括天线的被测装置的方法是由简·海瑟尔巴特;何塞·莫雷拉设计研发完成，并于2019-08-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试布置、自动化测试设备、和用于测试包括天线的被测装置的方法在说明书摘要公布了：根据本发明的一个实施例是一种用于测试包括天线的DUT的测试布置。所述测试布置包括DUT位置和探针，所述探针包括两个导体。所述测试布置被配置为将所述探针定位在所述DUT位置的附近，使得当所述DUT放置在所述DUT位置中例如在DUT插口中或者放置在其中DUT被探针接触到的区域中时，所述探针处于所述DUT的天线元件的电抗近场区域中。

本发明授权测试布置、自动化测试设备、和用于测试包括天线的被测装置的方法在权利要求书中公布了：1.一种测试布置（100、850、910、1230、1300、1410a-1410c、1700、1900、2200、2300），用于测试被测装置DUT（110、400、540、860、920、1220），所述DUT包括天线阵列，所述天线阵列包括多个天线元件， 其中所述测试布置包括测试夹具（550、820、1210）和探针（140、730、810、950a、950b、1130、1270a、1270b、1330a、1330b、1440、1530、1630、1730a、1730b、1830、1930a、1930b、2030、2230、2330、2430、2580、2930）， 其中所述探针包括两个导体（143、146）； 其中所述测试布置被配置为将所述探针定位在所述测试夹具的附近， 使得当所述DUT放置在所述测试夹具中时，所述探针处于所述DUT的所述多个天线元件（250、350、450、620、720、930a-930c、1115、1320a-1320c、1430、1540、1620、1720a-1720c、1840、1920a-1920c、2040、2210、2320a-2320c、2440a-2440c、2540、2940）的电抗近场区域中，并且其中所述探针被配置为单独地测试所述多个天线元件中的天线元件，以测试所述DUT。

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