安徽芯宇驰半导体科技有限公司刘申获国家专利权
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龙图腾网获悉安徽芯宇驰半导体科技有限公司申请的专利一种储存卡测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119559995B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411558918.8，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种储存卡测试系统及测试方法是由刘申;邓正绍设计研发完成，并于2024-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种储存卡测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及储存卡技术领域，具体为一种储存卡测试系统及测试方法，包括服务器、交换机、显示屏、测试板卡与测试机台，所述服务器与交换机之间通信连接，所述交换机分别与测试机台、显示屏之间通信连接，所述测试机台上设置有多个测试板卡，所述测试板卡用于安装待测试的储存卡，所述服务器中具有测试软件，服务器通过测试软件控制测试机台对储存卡进行测试，并将测试结果显示在显示屏上，还包括底座，所述测试机台安装于底座的表面，所述底座上安装有运输组件，所述运输组件上安装有连接块，本发明的目的在于解决需要一种储存卡测试系统，能够并行处理多个储存卡测试，缩短测试周期的问题。
本发明授权一种储存卡测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种储存卡测试系统，包括服务器、交换机、显示屏、测试板卡（29）与测试机台（30），其特征在于：所述服务器与交换机之间通信连接，所述交换机分别与测试机台（30）、显示屏之间通信连接，所述测试机台（30）上设置有多个测试板卡（29），所述测试板卡（29）用于安装待测试的储存卡，所述服务器中具有测试软件，服务器通过测试软件控制测试机台（30）对储存卡进行测试，并将测试结果显示在显示屏上； 所述测试机台（30）的顶端活动插设有升降柱（22），所述测试机台（30）的顶面配合开设有供升降柱（22）竖直插设的升降槽（27），所述升降柱（22）位于测试板卡（29）的右侧，且升降柱（22）的数量与测试板卡（29）上的插槽一一对应，每个所述升降柱（22）的表面均安装有第三电动推杆（26）。
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