南京扬贺扬微电子科技有限公司郑文豪获国家专利权
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龙图腾网获悉南京扬贺扬微电子科技有限公司申请的专利应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115061865B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210701869.3，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台是由郑文豪设计研发完成，并于2022-06-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台在说明书摘要公布了：本申请涉及一种应用于SPINANDFLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台，涉及芯片测试技术领域，所述方法应用于SPI测试平台，SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、命令接收缓存和结果发送缓存，第二MCU支持QSPI协议，方法包括：第一MCU接收测试主机发送的SPINANDFLASH芯片的功能测试命令；第一MCU将功能测试命令存储在命令接收缓存中；第二MCU检测到命令接收缓存中存有功能测试命令时，将功能测试命令发送至SPI控制器；第二MCU接收SPI控制器反馈的功能测试结果，将功能测试结果存储在结果发送缓存中；第一MCU检测到结果发送缓存中存有功能测试结果时，将功能测试结果反馈给测试主机。采用本申请，可以缩短SPI测试时间，提高SPINANDFLASH芯片的测试效率。
本发明授权应用于SPI NAND FLASH芯片的功能测试方法和SPI测试平台在权利要求书中公布了：1.一种应用于SPINANDFLASH芯片的功能测试方法，其特征在于，所述方法应用于SPI测试平台，所述SPI测试平台至少包含第一MCU、第二MCU、位于SPINANDFLASH芯片的SPI控制器、命令接收缓存和结果发送缓存，所述第二MCU支持QSPI协议，所述方法包括： 所述第一MCU接收测试主机发送的SPINANDFLASH芯片的功能测试命令； 所述第一MCU将所述功能测试命令存储在所述命令接收缓存中； 所述第二MCU检测到所述命令接收缓存中存有功能测试命令时，将所述功能测试命令发送至SPI控制器； 所述第二MCU接收所述SPI控制器反馈的功能测试结果，将所述功能测试结果存储在所述结果发送缓存中； 所述第一MCU检测到所述结果发送缓存中存有功能测试结果时，将所述功能测试结果反馈给所述测试主机。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京扬贺扬微电子科技有限公司，其通讯地址为：211800 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢-80；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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