TCL华星光电技术有限公司贾磊获国家专利权
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龙图腾网获悉TCL华星光电技术有限公司申请的专利面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114444360B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210108674.8，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质是由贾磊;邓创华;肖浪;汪刚设计研发完成，并于2022-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取液晶面板的仿真模型；根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数；根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率；根据入射光亮度和所述节点透过率确定各节点的透射光亮度值。本申请实施例针对实际使用过程中存在外力作用的液晶面板产品，在设计阶段定量化计算其亮度分布，避免反复制作样品进行试验。
本发明授权面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种面板亮度分析方法，其特征在于，包括： 获取液晶面板的仿真模型； 根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数，所述透过率影响参数包括面板透过率、开口率以及光强吸收系数； 根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率； 根据入射光亮度和所述节点透过率确定各节点的透射光亮度值； 所述根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数，包括：根据所述仿真模型确定对应节点之间的相对错位量，所述对应节点为所述液晶面板的上玻璃基板和下玻璃基板在初始状态中相互对应的节点，上玻璃基板和下玻璃基板中所述对应节点的切向位移为所述相对错位量；根据所述相对错位量和预设开口率与相对错位量的对应关系，确定所述开口率； 所述根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率，包括：根据各节点的所述面板透过率、所述开口率以及所述光强吸收系数，计算所述仿真模型各节点的节点透过率。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人TCL华星光电技术有限公司，其通讯地址为：518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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