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龙图腾网获悉北京工业大学申请的专利一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114357920B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111669098.6，技术领域涉及：G06F30/3312；该发明授权一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法是由聂敬瑶;耿淑琴;曹文华;李朋昆;鲁航;朱荣豪;亓元;李熙;徐楷;杨号设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，属于EDA基础算法。通过把时序电路抽象成多个覆盖单元，建立状态转换图，把问题划分成三种互斥情景，通过相关算法，计算指定故障只在某一特定位置发生的概率，对所有可能状态下发生的概率进行排序，从而确定故障最可能出现的位置，从而补充动态验证的完整性。

本发明授权一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法在权利要求书中公布了：1.一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，其特征在于：该方法包括前期建模部分和算法计算部分；所述的前期建模部分即用驱动方程、状态方程和输出方程全面表示时序电路的逻辑功能，用状态转移图描述时序电路的状态转换，通过时序电路仿真得到状态间的转移概率和初始分布；指定要关注的故障和状态后，将无关状态合并成一个覆盖仓，得到抽象的状态转移图，完成前期建模工作； 算法计算部分即把指定故障a只在特定状态e发生的概率问题根据测试周期划分为三种互斥情景，依据状态间转移概率、故障检测概率和初始分布概率进行正向算法计算；其中pi,j为转移概率，q i 为故障检测概率，T为测试周期，φ i 为初始分布，故障在第i个周期第j个状态的概率为a[i][j]； 时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的三种情景分别是： 故障a在初始时第一次被发现在状态e发生；在初始分布时发生在状态e，即a[0][e]；T=1次测试中状态转移从状态e开始，整个测试周期内的其他状态采用故障不发生的概率进行计算，T=1,...t次测试内状态e发生和不发生都可以； 故障a在最后一次测试中第一次被发现在状态e发生；前t-1次周期故障不发生即1-q i ,第t次测试中考虑状态从上一周期转移到状态e且故障发生； 故障a在中间某次测试中第一次被发现在状态e发生；考虑故障第一次发生在中间T=1,...t-1次测试，且初始不发生，最后一次测试中可能发生；第T个测试周期故障a第一次发生，此测试周期只考虑状态转移到状态e，T+1次测试周期从状态e跳转到其他状态； 得到指定故障a只在特定状态e发生的概率后，改变故障发生的状态得到指定故障a在其他状态发生的概率，并对所有结果进行排序，概率最高的即是指定故障a最有可能发生的状态。

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