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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利电子器件软错误率评估方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114329993B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111666433.7，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权电子器件软错误率评估方法、装置和计算机设备是由张战刚;黄云;雷志锋;彭超;何玉娟;肖庆中;路国光;来萍设计研发完成，并于2021-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子器件软错误率评估方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种电子器件软错误率评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取电子器件的封装材料释放的粒子的通量‑能量谱；对所述电子器件进行反向分析，确定电子器件的有源区至所述封装材料之间的介质属性信息；根据通量‑能量谱以及介质属性信息，确定电子器件在有源区的粒子通量‑有效线性能量转移值谱；获取对电子器件进行辐照试验获得的电子器件的单粒子效应截面值‑有效线性能量转移值谱；对粒子通量‑有效线性能量转移值谱和单粒子效应截面值‑有效线性能量转移值谱进行运算，确定电子器件的软错误率。采用本方法能够提高电子器件软错误率的评估精度。

本发明授权电子器件软错误率评估方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种电子器件软错误率评估方法，其特征在于，所述方法包括： 获取电子器件的封装材料释放的粒子的通量-能量谱； 对所述电子器件进行反向分析，确定所述电子器件的有源区至所述封装材料之间的介质属性信息； 根据所述通量-能量谱以及所述介质属性信息，确定所述电子器件在所述有源区的粒子通量-有效线性能量转移值谱；其中，有效线性能量转移值为线性能量转移值与阿尔法粒子在有源区表面出射角度的余弦值之间的比值； 获取对所述电子器件进行辐照试验获得的所述电子器件的单粒子效应截面值-有效线性能量转移值谱； 对所述粒子通量-有效线性能量转移值谱和所述单粒子效应截面值-有效线性能量转移值谱进行运算，确定所述电子器件的软错误率； 所述对所述粒子通量-有效线性能量转移值谱和所述单粒子效应截面值-有效线性能量转移值谱进行运算，确定所述电子器件的软错误率，包括： 将所述粒子通量-有效线性能量转移值谱和所述单粒子效应截面值-有效线性能量转移值谱进行积分，获得所述电子器件的软错误率。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。