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龙图腾网获悉重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司申请的专利一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120063586B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510529870.6，技术领域涉及：G01M1/38；该发明授权一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统是由权磊;张少波;李海力设计研发完成，并于2025-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统在说明书摘要公布了：本发明涉及动平衡校正技术领域，具体涉及一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统。一种芯片动平衡测试用校正系统，包括：不平衡频域特征向量构建模块、不平衡量分析模块、动平衡校正模块和强化学习模块。本发明通过对陀螺仪和加速度计采集的电信号进行频域分析，再通过峰值查找算法确定芯片不平衡对应的振动信号特征，进而通过不平衡量分析模型和动平衡校正模型的配合，确定芯片动平衡校正对应的动平衡校正参数集，通过动平衡校正参数集对安装在芯片上的IPMC薄膜层对应的IPMC阵列单元进行驱动电压调整，以实现对芯片质量分布的调整，进而实现对芯片的动平衡校正。

本发明授权一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片动平衡测试用校正方法，其特征在于，包括： 在芯片上贴附IPMC薄膜层，IPMC薄膜层上包括若干个IPMC阵列单元； 通过陀螺仪和加速度计获取芯片旋转时的旋转状态数据，将旋转状态数据进行预处理，得到标准旋转状态数据，再对标准旋转状态数据进行快速傅里叶变换，构建旋转状态频谱图，在旋转状态频谱图中以频率为横轴，以幅值为纵轴，通过峰值查找算法从旋转状态频谱图中确定不平衡频域特征向量； 将不平衡频域特征向量送入不平衡量分析模型中进行处理，输出不平衡状态向量，将不平衡状态向量送入至动平衡校正模型中进行处理，输出动平衡校正参数集，动平衡校正参数集中包括所有IPMC阵列单元的控制参数，通过动平衡校正参数集对IPMC薄膜层进行控制，实现对芯片的动平衡校正； 重复对芯片的动平衡校正，并且动平衡校正模型通过强化学习进行调整；直至峰值查找算法无法确定不平衡频域特征向量时，停止对芯片的动平衡校正； 通过峰值查找算法从旋转状态频谱图中确定不平衡频域特征向量，具体包括如下步骤： 将旋转状态频谱图中所有的频率按照从小到大的顺序进行排列，构建旋转状态频率集，通过滑动窗口对旋转状态频率集进行分割，得到若干个旋转状态频率集片段，滑动窗口的大小为C，步长为S； 针对每个旋转状态频率集片段，执行如下内容：选择旋转状态频率集片段中幅值最大的频率、对应的幅值与对应的相位组成候选者特征向量； 针对每个候选者特征向量，将候选者特征向量对应的频率记为候选者频率，基于候选者频率，在旋转状态频谱图中向左遍历频率，直至查询到一个幅值高于候选者频率对应幅值E的频率或者到达旋转状态频谱图的边界，将向左遍历过程中最低的幅值记为左最低幅值L，在旋转状态频谱图中向右遍历频率，直至查询到一个幅值高于候选者频率对应幅值的频率或者到达旋转状态频谱图的边界，将向右遍历过程中最低的幅值记为右最低幅值R，计算显著性P=E-max（L，R），将候选者特征向量对应的显著性P与显著性阈值T进行大小比较，若是候选者特征向量对应的显著性P高于显著性阈值T，将候选者特征向量送入候选集合；若是候选者特征向量对应的显著性P不高于显著性阈值T，不进行操作，视为无法确定不平衡频域特征向量，显著性阈值T根据旋转状态频谱图对应的噪声基底水平进行调整； 遍历候选集合，针对每个选择的候选者特征向量，将选择的候选者特征向量对应的候选者频率记为f，判断“f∈（kg-μ，kg+μ）”是否成立，其中k为正整数，g为芯片的旋转频率，μ为允差值，若是“f∈（kg-μ，kg+μ）”成立，将选择的候选者特征向量记为不平衡频域特征向量；若是“f∈（kg-μ，kg+μ）”不成立，不进行操作，视为无法确定不平衡频域特征向量。

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