中国科学院长春光学精密机械与物理研究所黄煜获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种汞灯钨灯联合辐射校正的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119533658B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411669252.3，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种汞灯钨灯联合辐射校正的方法是由黄煜;马翼;杨小虎;李占峰;李乐设计研发完成，并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种汞灯钨灯联合辐射校正的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种汞灯钨灯联合辐射校正的方法，属于校正方法技术领域。解决了现有技术中钨灯辐射校正光谱范围局限性的问题。本发明的方法，先于暗环境，且温度、电压、汞蒸气压强不变的条件下，分别用汞灯和钨灯照射光学系统，分别得到汞灯特征辐射光谱与钨灯定标辐射光谱，取二者中同一波长作为搭接波长，计算钨灯搭接谱线的辐射值与汞灯搭接谱线的辐射值的比值，将该比值作为汞灯辐射值的缩放系数，汞灯特征辐射光谱中的其他光谱依照其固定的相对比例关系按此缩放系数缩放，得到汞灯定标辐射光谱，利用汞灯定标辐射光谱与钨灯定标辐射光谱对光学系统进行辐射校正，得到校正结果。该方法能够拓展辐射校正光谱范围，同时精确性更高。
本发明授权一种汞灯钨灯联合辐射校正的方法在权利要求书中公布了：1.汞灯钨灯联合辐射校正的方法，其特征在于，步骤如下： 步骤一、先于暗环境，且温度、电压、汞蒸气压强不变的条件下，分别使用汞灯和钨灯对光学系统进行照射，得到汞灯特征辐射光谱与钨灯定标辐射光谱； 步骤二、然后在汞灯特征辐射光谱与钨灯定标辐射光谱中各选出一条谱线作为汞灯搭接谱线和钨灯搭接谱线，所述钨灯搭接谱线与汞灯搭接谱线的波长一致； 步骤三、将钨灯搭接谱线的辐射值和汞灯搭接谱线的辐射值做比，得到汞灯的缩放系数； 步骤四、将汞灯特征辐射光谱依照其谱线间固定的相对比例关系按照汞灯的缩放系数进行缩放后，得到汞灯定标辐射光谱； 步骤五、利用汞灯定标辐射光谱与钨灯定标辐射光谱对光学系统进行辐射校正，得到校正结果。
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