天津津航技术物理研究所孙琳获国家专利权
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龙图腾网获悉天津津航技术物理研究所申请的专利自适应神经网络非均匀性校正方法、终端设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114187197B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111442849.0，技术领域涉及：G06T5/80；该发明授权自适应神经网络非均匀性校正方法、终端设备及存储介质是由孙琳设计研发完成，并于2021-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本自适应神经网络非均匀性校正方法、终端设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种自适应神经网络非均匀性校正方法、终端设备及存储介质，其中自适应神经网络非均匀性校正方法包括以下步骤：实时采集若干图像；从所述若干图像中挑选出有效图像；所述有效图像包括多个呈矩阵分布的像元；获取所述有效图像中具有邻域的像元，即为有效像元；所述邻域为沿所述有效像元周向分布且与所述有效像元呈45度夹角的像元集合；获取所述有效像元的输入辐照度Xi,j；通过公式获得所述有效像元的输出辐照度Yi,j，公式中的参数包括像元邻域的方差、增益校正系数及偏置校正系数，此方法可获得最终的无鬼影、无锯齿效应的理想图像。
本发明授权自适应神经网络非均匀性校正方法、终端设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种自适应神经网络非均匀性校正方法，其特征在于，包括以下步骤： 实时采集若干图像； 从所述若干图像中挑选出有效图像，所述有效图像包括多个呈矩阵分布的像元； 获取所述有效图像中具有邻域的像元，即为有效像元；所述邻域为沿所述有效像元周向分布且与所述有效像元呈45度夹角的像元集合； 获取所述有效图像中所述有效像元的输入辐照度Xi,j； 通过以下公式，计算得到所述有效像元的输出辐照度Yi,j： Yi,j＝Ki,jXi,j+Bi,j1 Ki,jn+1＝Ki,jn-2ηnXi,jnYi,jn-fi，j2 Bi,jn+1＝Bi,jn-2ηnYi,jn-fi，j3 其中i为所述有效像元在所述有效图像中的行数； j为所述有效像元在所述有效图像中的列数； Ki,j是增益校正系数； Bi,j是偏置校正系数； fi，j为所述神经网络校正期望值； ηn为所述有效像元的更新步长； n为处理顺序号； 为所述有效像元的邻域方差； step为初始步长。
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