中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))牛皓获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利寿命预测方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119438857B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411476771.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权寿命预测方法、装置和计算机设备是由牛皓;柳月波;颜佳辉;廖文渊;李树旺;杨少华;赖灿雄;周斌;路国光设计研发完成，并于2024-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本寿命预测方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种寿命预测方法、装置和计算机设备，该方法包括在预设测试条件下对集成电流进行测试，获取集成电路中多个目标器件在测试过程中的电应力参数，然后根据测试条件的条件参数和各目标器件的电应力参数，分别确定各目标器件的退化参数，以从多个目标器件中确定出该集成电路的薄弱器件，最后即可基于短板效应，根据薄弱器件的寿命确定集成电路的寿命。薄弱器件为集成电路中最易损坏的器件，因此薄弱器件的寿命能够真实有效地反映出集成电路的实际寿命，本申请基于集成电路运行过程中的各目标器件的实际运行参数找到集成电路的薄弱器件，根据薄弱器件的寿命确定集成电路的寿命，能够对集成电路的寿命进行准确预测。
本发明授权寿命预测方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取在预设测试条件下，集成电路中多个目标器件在测试过程中的电应力参数； 根据所述测试条件的条件参数和各所述目标器件的电应力参数，分别确定各所述目标器件的退化参数；所述测试条件的条件参数包括温度参数、频率参数和时序参数； 根据各所述目标器件的退化参数确定多个目标器件中的薄弱器件；其中，所述薄弱器件的退化参数大于多个目标器件中的剩余器件的退化参数； 根据所述薄弱器件确定所述集成电路的寿命； 所述根据所述测试条件的条件参数和各所述目标器件的电应力参数，分别确定各所述目标器件的退化参数，包括： 根据所述温度参数和各所述目标器件的电应力参数，对应确定各所述目标器件在失效机理下的寿命； 根据所述频率参数、所述时序参数和各所述目标器件的寿命，分别确定各所述目标器件对应所述失效机理的退化参数。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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