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龙图腾网获悉上海师范大学申请的专利一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115330686B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210825600.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法是由马燕;熊斌斌;赵金凤;马志康;黄慧;王斌设计研发完成，并于2022-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法，包括以下步骤：在正常光照下，采集彩色谷粒图像，并转换为二值谷粒图像；统计二值谷粒图像中各谷粒连通区域面积，并删除面积小于100的连通区域；将最小谷粒连通区域的面积作为单个谷粒的面积S0，再根据S0计算单个谷粒的周长；对谷粒连通区域上的曲线段采用椭圆拟合，利用拟合椭圆分割出第I类谷粒连通区域ΩI，对其余的谷粒连通区域，进一步进行轮廓提取和凹点检测，直到将所有的第I类谷粒连通区域ΩI从彩色谷粒图像中分割出来。本发明的一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法，无需专业的摄像环境和设备，无需人工干预，操作简便，成本低，分割精度高。

本发明授权一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法在权利要求书中公布了：1.一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一、在正常光照下，采集彩色谷粒图像，并允许谷粒之间存在粘连； 步骤二、将所述彩色谷粒图像转换为二值谷粒图像； 步骤三、统计所述二值谷粒图像中各谷粒连通区域面积，并删除面积小于100的连通区域； 步骤四、将删除面积小于100的连通区域后的谷粒连通区域面积中的最小谷粒连通区域的面积作为单个谷粒的面积S0，再根据S0计算单个谷粒的周长L0； 步骤五、将所述二值谷粒图像中的谷粒连通区域分为两类，第I类谷粒连通区域ΩI是指谷粒连通区域只包含单个谷粒，第II类谷粒连通区域ΩII是指谷粒连通区域包含两个以上粘连谷粒； 步骤六、提取属于ΩII的谷粒连通区域的轮廓； 步骤七、检测属于ΩII的谷粒连通区域的凹点；具体包括如下步骤： 1从ΩII中取出一个谷粒连通区域ωi； 2遍历步骤六得到的ωi上的各轮廓点pi，以pi为基准点，沿轮廓向前取第7个点pi1，再沿轮廓向后取第7个点pi2； 3构造以pi为圆心，pi到pi1间距离|pipi1|为半径的圆C，并在圆C上以等角度1°间隔取360个点； 4计算圆C上360个点中与pi1距离最近的点，计算圆C上360个点中与pi2距离最近的点； 5和将圆C分为和两段圆弧，统计圆弧上数值等于1的点的数目n1，再统计圆弧上数值等于1的点的数目n2，取n1和n2两者较大者作为轮廓点pi的角度； 6将ωi上的各轮廓点pi的角度θi与其前、后轮廓点的角度θi-1，θi+1进行比较，当θiθi-1，且θiθi+1，且θi220，则将轮廓点pi作为pi所属谷粒连通区域的凹点； 步骤八、对谷粒连通区域上的曲线段采用椭圆拟合，利用拟合椭圆分割出第I类谷粒连通区域ΩI，对于剩下的谷粒连通区域，删除面积小于100的连通区域，再返回步骤五，直到将所有的第I类谷粒连通区域ΩI从彩色谷粒图像中分割出来；具体步骤如下： 1谷粒连通区域上的凹点将区域轮廓分为若干曲线段； 2对各段曲线段统计轮廓点的数目，并将该数目作为该曲线段的长度； 3对于长度大于0.5L0的曲线段采用椭圆拟合，将谷粒连通区域分为两部分，将位于拟合椭圆的一部分谷粒连通区域看作第I类谷粒连通区域ΩI，对于剩下的谷粒连通区域，删除面积小于100的连通区域； 4再返回步骤五，直到将所有的第I类谷粒连通区域ΩI从彩色谷粒图像中分割出来。

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