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龙图腾网获悉欧姆龙株式会社申请的专利外观检查装置及不良检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114450582B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080068180.0，技术领域涉及：G01N21/956；该发明授权外观检查装置及不良检查方法是由林信吾;小西泰辅设计研发完成，并于2020-03-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本外观检查装置及不良检查方法在说明书摘要公布了：本发明提供在取得检查对象的检查区域的图像并且利用高度测定装置测定检查区域内的规定部位的高度的外观检查装置中能够更准确地判定焊料突出不良的技术。外观检查装置具备：拍摄部3，其拍摄检查对象30上的检查区域；高度测定部20，其通过射出测定光并接收其反射光来测定检查区域的规定部位的高度；移动机构5，其使拍摄部3及高度测定部20与检查对象相对地移动；以及判定部，其基于检查区域的图像和规定部位的高度的信息，判定检查区域中的检查对象有无不良，在从高度测定部20射出的测定光被照射到检查对象中的限制区域M的情况下，限制判定部基于由高度测定部20测定出的规定部位的高度的信息进行不良判定。

本发明授权外观检查装置及不良检查方法在权利要求书中公布了：1.一种外观检查装置，其具备： 拍摄部，其对检查对象上的检查区域进行拍摄； 激光位移计，其通过射出测定光并接收其反射光来测定所述检查对象的规定部位的高度； 移动机构，其通过使所述拍摄部及所述激光位移计与所述检查对象相对地移动，变更被所述拍摄部拍摄的所述检查区域及被所述激光位移计测定高度的规定部位； 判定部，其根据由所述拍摄部拍摄到的所述检查区域的图像和由所述激光位移计测定出的所述规定部位的高度的信息，判定所述检查区域中的所述检查对象有无不良；以及 限制部，其在从所述激光位移计射出的测定光照射到所述检查对象的规定的限制区域的情况下，限制所述判定部基于由所述激光位移计测定出的所述规定部位的高度的信息判定有无所述不良， 所述检查对象是安装有电路部件的电路基板， 所述限制区域包含如下区域：该区域是当所述激光位移计与所述电路基板相对移动时，在所述测定光被照射到焊接于所述电路基板的所述电路部件的引线的时刻的紧前或紧后，被照射所述测定光的区域， 在相对于所述激光位移计的行进方向，所述测定光的出光部配置于比受光部靠前侧的情况下，所述限制区域是所述测定光在照射到所述引线的紧后所照射的区域， 在相对于所述激光位移计的行进方向，所述测定光的出光部配置于比受光部靠后侧的情况下，所述限制区域是所述测定光在照射到所述引线的紧前所照射的区域， 在相对于所述激光位移计的行进方向垂直的方向上排列配置所述测定光的出光部和受光部的情况下，所述限制区域是所述测定光在照射到所述引线的紧前所照射的区域以及所述测定光在照射到所述引线的紧后所照射的区域。

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