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龙图腾网获悉北京暮壹科技有限公司申请的专利一种芯片检测装置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118501658B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410610096.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片检测装置及检测方法是由李龙设计研发完成，并于2024-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片检测装置及检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片检测装置及检测方法，属于芯片检测领域。一种芯片检测装置及检测方法，包括底座以及固定在其内腔中部的电动推杆，所述底座顶部滑动连接有检测台，所述电动推杆穿过检测台中心空槽，且所述电动推杆的伸缩端顶部外壁固定连接有检测载板，所述检测载板端部固定连接有检测探针；本发明通过压缩活塞上部腔体气体，带动翻转齿轮与定位杆旋转，使得定位环翻转一圈，即可对芯片的另一面进行电性检测，实现自动化的双面检测，有效提高了检测效率；通过压缩活塞盒底部腔体内的气体，使得吸附杆与芯片底部贴合，并利用其内部产生的负压作用，实现对芯片底部的吸附固定，提高了检测过程中芯片的稳定性。

本发明授权一种芯片检测装置及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片检测装置，包括底座（1）以及固定在其内腔中部的电动推杆（2），其特征在于，所述底座（1）顶部滑动连接有检测台（3），所述电动推杆（2）穿过检测台（3）中心空槽，且所述电动推杆（2）的伸缩端顶部外壁固定连接有检测载板（21），所述检测载板（21）端部固定连接有检测探针（22），还包括： 定位吸附机构（4），所述定位吸附机构（4）设置在检测台（3）上，用于对待检测芯片进行定位固定； 翻转检测组件（5），所述翻转检测组件（5）设置在检测台（3）上，用于对检测芯片进行翻面实现双面检测； 所述检测台（3）顶部两侧均固定连接有凸形盒（31），所述凸形盒（31）侧壁均转动连接有定位杆（32），所述定位吸附机构（4）沿检测台（3）中心对称设置有两组，且每组所述定位吸附机构（4）均包括定位环（41），所述定位环（41）与定位杆（32）端部固定连接，且位于定位环（41）下方的所述检测台（3）上开设有定位槽（42），所述定位环（41）内壁四周均开设有卡接槽（43），所述卡接槽（43）内滑动连接有卡接滑块（44），所述卡接滑块（44）与卡接槽（43）内壁之间固定连接有第一弹簧（45）； 所述底座（1）内腔底部固定连接有活塞盒（6），所述活塞盒（6）内从上至下依次滑动连接有第一滑板（61）和第二滑板（62），所述第一滑板（61）顶部与活塞盒（6）之间固定连接有第二弹簧（611），所述第二滑板（62）底部与活塞盒（6）之间固定连接有第三弹簧（621），所述检测载板（21）的底部固定连接有触发杆（23），所述触发杆（23）底端贯穿第一滑板（61）延伸至第二滑板（62）上方，所述底座（1）内腔底部固定连接有定套筒（46），所述定套筒（46）内滑动连接有吸附杆（47），所述定套筒（46）侧壁底部连通有充气管（461），所述充气管（461）另一端与活塞盒（6）内腔底部连通，所述定套筒（46）侧壁顶部连通有吸附管（462），所述吸附管（462）的另一端与第一滑板（61）和第二滑板（62）之间的腔体连通，所述吸附杆（47）内部开设有吸附槽（471）。

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