北京大学程方骁获国家专利权
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龙图腾网获悉北京大学申请的专利透镜及其制作方法和用途获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116577852B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310380429.7，技术领域涉及：G02B3/00；该发明授权透镜及其制作方法和用途是由程方骁;李焱;邓力;韩鸿宾;王伟;高亚娟;卢嘉宾;王睿设计研发完成，并于2023-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本透镜及其制作方法和用途在说明书摘要公布了：透镜的制作方法，包括：设置需要检测的M个轨道角动量的拓扑荷数的数值；设置具有不同拓扑荷数的涡旋电磁波在接收平面的第n个像素点的目标电场强度的数值；计算具有不同拓扑荷数的涡旋电磁波投射至接收平面的第n个像素点的电场强度；利用损失函数，逐步逼近优化出透镜的相位分布；以及利用获得的透镜的相位分布制作透镜。该制作方法制得的透镜利于降低检测涡旋电磁波的轨道角动量的拓扑荷数的成本。此外还提供了透镜及其用途。
本发明授权透镜及其制作方法和用途在权利要求书中公布了：1.透镜的制作方法，所述透镜用于检测涡旋电磁波的轨道角动量的拓扑荷数，所述透镜具有K个介质柱，K为正整数，在所述检测时，涡旋电磁波穿过所述透镜并在自由空间传播后投射至一个接收平面，所述接收平面具有N个像素点，N为正整数，其特征在于，所述制作方法包括： 设置需要检测的M个轨道角动量的拓扑荷数m的数值，其中M为正整数，m为-10至10的整数； 设置具有不同拓扑荷数m的涡旋电磁波在所述接收平面的第nn＝1,2,3…N个像素点的目标电场强度的数值； 计算具有不同拓扑荷数m的涡旋电磁波投射至所述接收平面的第n个像素点的电场强度其中，所述透镜在第kk＝1,2,3…K个介质柱的复传输系数的相位为变量； 利用如下损失函数，逐步逼近优化出所述透镜的相位分布， 以及 利用获得的所述透镜的相位分布制作透镜。
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