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龙图腾网获悉北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所申请的专利一种可编程集成电路自动化测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115267515B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210424535.6，技术领域涉及：G01R31/317；该发明授权一种可编程集成电路自动化测试系统及方法是由张丁;陈雷;周亮;张彦龙;李学武;孙华波;张帆;吴英哲;李明哲;马筱婧;单连志设计研发完成，并于2022-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种可编程集成电路自动化测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种可编程集成电路自动化测试系统及方法，系统包括上位机、通信模块、主控FPGA以及待测FPGA模块；上位机向主控FPGA发送待测的码流，并控制其对待测FPGA模块的码流烧写。在烧写阶段，上位机将码流发送至主控FPGA，主控FPGA再将码流发送回上位机进行校验，校验通过后上位机向主控FPGA发送烧写指令，控制主控FPGA向待测FPGA烧写码流；在测试阶段，主控FPGA根据上位机的指令向待测FPGA发送激励，并采集待测FPGA的响应，根据响应生成指令反馈给上位机；在循环遍历阶段，上位机通过对测试结果的判断，对测试流程进行控制，能够自动化、批量式地完成多个码流的烧写与测试。

本发明授权一种可编程集成电路自动化测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种可编程集成电路自动化测试系统，其特征在于包括上位机、通信模块、主控FPGA以及待测FPGA模块；上位机通过通信模块与主控FPGA进行通信； 在上位机中预先存储待测FPGA模块的N个测试码流文件；主控FPGA中加载了M个测试激励产生采集响应模块，每个测试激励产生采集响应模块至少与1个测试码流文件匹配，用于检验载有对应测试码流的待测FPGA模块的响应是否正常；M和N均大于等于1； 烧写阶段，上位机每次提取一个测试码流文件，将测试码流发送至主控FPGA，主控FPGA再将收到的测试码流发送回上位机进行校验，如果校验合格，上位机向主控FPGA发送烧写测试指令，烧写测试指令包括激励类型、各激励信号参数；否则，上位机提示测试人员检查测试码流文件和硬件连接； 主控FPGA收到烧写测试指令后，向待测FPGA烧写码流，烧写完成之后自动进入测试阶段； 在测试阶段，主控FPGA根据激励类型，使能相应的测试激励产生采集响应模块产生与测试码流相匹配的激励信号，向待测FPGA发送激励信号，并采集待测FPGA的响应，根据响应判断待测FPGA是否正常，将判断结果反馈给上位机； 上位机查看测试结果，如果待测FPGA正常，则自动提取下一个测试码流文件，重新进入烧写阶段，自动完成下一个码流的烧写与测试，如果待测FPGA异常，则提示测试人员检查待测FPGA； 如果同一个测试码流文件测试三次，主控FPGA输出的测试结果都表示待测FPGA异常，则上位机弹出对话框显示错误码流的信息，以提示测试人员进行检查与处理；一旦主控FPGA输出的测试结果表示待测FPGA正常，则进行下一个测试码流的烧写与测试，直到所有测试码流测试完毕。

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