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龙图腾网获悉同方威视科技(北京)有限公司;同方威视技术股份有限公司申请的专利安检设备、安检系统及安检方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114152994B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111670243.2，技术领域涉及：G01V5/22；该发明授权安检设备、安检系统及安检方法是由李元景;孙尚民;宗春光;宋涛;刘磊;马媛;喻卫丰;刘必成设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本安检设备、安检系统及安检方法在说明书摘要公布了：本公开提供一种安检设备及安检设备，包括：支架，限定沿第一方向延伸的检查通道；第一X射线加速器，设置在支架的顶部的偏移检查通道的中心线的位置，配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线，用以对通过检查通道的待检物品进行检查；第二X射线加速器，配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查；以及探测器装置，包括：多个探测器模块，设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置，用于接收至少一部分第一X射线和或第二X射线，以形成待检物品的透射图像；其中，第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。还提供一种应用于安检设备的安检方法。

本发明授权安检设备、安检系统及安检方法在权利要求书中公布了：1.一种安检设备，其特征在于，包括： 支架（6），限定沿第一方向延伸的检查通道； 第一X射线加速器（1），设置在所述支架（6）的顶部的偏移所述检查通道的中心线的位置，配置成向下朝向所述检查通道辐射第一X射线，用以对通过所述检查通道的待检物品（7）进行检查； 第二X射线加速器（2），配置成向所述检查通道辐射第二X射线用以对通过所述检查通道的待检物品（7）进行检查；以及 探测器装置，包括： 多个探测器模块，设置在所述支架（6）上与所述第一X射线加速器（1）和所述第二X射线加速器（2）面对的位置，用于接收至少一部分所述第一X射线和或第二X射线，以形成所述待检物品（7）的透射图像； 其中，所述第一X射线（11）、第二X射线（21）及多个所述探测器模块所形成的中心面构造成位于同一平面内； 信号采集模块，和所述第一X射线加速器（1）、第二X射线加速器（2）及多个所述探测器模块电连接； 所述探测器模块还配置为依据所述第一X射线加速器（1）和所述第二X射线加速器（2）输出的同步脉冲信号使能采集所述第一X射线（11）和所述第二X射线（21），所述信号采集模块用以将所述探测器模块接收的由第一X射线（11）和第二X射线（21）所产生的信号进行标记，所述探测器模块进一步依据所述第一X射线加速器（1）和所述第二X射线加速器（2）输出的图像标记信号将采集到的数据包标记为第一数据包和第二数据包； 一部分所述探测器模块分别构造成侧部阵列（4）及底部阵列（5），其中，所述侧部阵列（4）设置在所述支架（6）的内侧侧面，所述底部阵列（5）设置在所述支架（6）的内侧底面，所述第一X射线（11）的射线张角覆盖所述侧部阵列（4）及底部阵列（5）； 另一部分所述探测器模块构造成顶部阵列（3），其中，所述顶部阵列（3）设置在所述支架（6）的内侧顶面，所述第二X射线的射线张角覆盖所述侧部阵列（4）及顶部阵列（3）； 所述第二X射线（21）的射线张角还覆盖一部分所述底部阵列（5）。

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