株式会社岛津制作所大越晓获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社岛津制作所申请的专利表面分析装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114609171B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111337109.0,技术领域涉及:G01N23/2252;该发明授权表面分析装置是由大越晓;石川丈宽设计研发完成,并于2021-11-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本表面分析装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种表面分析装置,能够避免在自动地对散布图上的点进行聚类时检测到伪簇,从而提高聚类的精度。本发明所涉及的表面分析装置的一个方式具备:测定部1‑2、4‑8,其在试样3上的多个位置处分别获取反映了作为分析对象的多个成分或元素的量的信号;散布图制作部92,其基于由测定部得到的测定结果来制作二元散布图;聚类分析部94,其使用基于密度的聚类分析的方法来对二元散布图中的点进行聚类;以及参数调整部93,其利用二元散布图中的某一方的成分或元素的信号值的值分布信息,来调整距离阈值,该距离阈值是在基于密度的聚类分析中应设定的参数之一。
本发明授权表面分析装置在权利要求书中公布了:1.一种表面分析装置,具备: 测定部,其在试样上的多个位置处分别获取反映了作为分析对象的多个成分或元素的量的信号; 散布图制作部,其基于由所述测定部得到的测定结果来制作二元散布图; 聚类分析部,其使用基于密度的聚类分析的方法来对所述二元散布图中的点进行聚类;以及 参数调整部,其制作作为所述二元散布图中的信号值范围较窄的成分或元素的信号值的分布信息的直方图,在该直方图中的表示频数最大的极大值的阶梯的前后或在全部阶梯中,在频数表示极大值的2个阶梯之间分别求出频数为0的阶梯的连续数最大的连续阶梯数,根据所述连续阶梯数来调整距离阈值,所述距离阈值是在所述基于密度的聚类分析中应设定的参数之一,在所述连续阶梯数大于该距离阈值的情况下,采用对将该连续阶梯数除以所述直方图的全阶梯数而得的值加上规定的校正常数而得到的值作为距离阈值。
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