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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司;北京中祥英科技有限公司申请的专利产品不良信息处理、产品不良信息查询方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115552226B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180001048.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权产品不良信息处理、产品不良信息查询方法和装置是由王海金;王川;兰天;吴建民;冯玉;王洪;王瑜;张帆;任佳伟;薛静;曾建风设计研发完成，并于2021-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本产品不良信息处理、产品不良信息查询方法和装置在说明书摘要公布了：本公开提出一种产品不良信息处理方法，包括：获取在当前膜层中的不良信息和历史膜层中的不良信息；确定在当前膜层的目标位置存在不良信息的情况下，历史膜层的目标位置是否存在不良信息；若在历史膜层的目标位置存在不良信息，删除在当前膜层中目标位置检测到的不良信息；若在历史膜层的目标位置不存在不良信息，保留在当前膜层中目标位置检测到的不良信息。据此，针对当前膜层中的不良信息，可以仅保留由当前膜层自身因素所导致的不良信息，而不必保留由历史膜层所导致的不良信息，一方面可以减少存储的数据量，另一方面可以简化后续分析不良信息的复杂度。

本发明授权产品不良信息处理、产品不良信息查询方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种产品不良信息处理方法，其特征在于，所述产品包括多个膜层，所述方法包括： 获取在当前膜层中的不良信息和历史膜层中的不良信息，将不良信息存储至率管理系统YMS，从YMS中抽取不良信息至数据仓库工具Hive中，通过计算引擎Spark从Hive中查询不良信息并写入Hbase数据库，其中，所述历史膜层在所述当前膜层之前形成； 确定所述当前膜层中不良信息的目标位置，以及判断在所述历史膜层中所述目标位置的对应位置是否存在不良信息： 若在所述历史膜层的所述目标位置存在不良信息，删除在所述当前膜层中所述目标位置检测到的不良信息； 若在所述历史膜层的所述目标位置不存在不良信息，保留在所述当前膜层中所述目标位置检测到的不良信息； 将记录的不良信息存储至第一数据表中； 根据制作过程中的工艺流程信息对所述第一数据表中的数据进行聚合以得到第二数据表，其中，所述第一数据表和所述第二数据表为Hbase数据库中的数据表； 根据接收到的查询指令在所述第二数据表中查询数据； 所述判断在所述历史膜层中所述目标位置的对应位置是否存在不良信息包括：确定在所述历史膜层中所述目标位置的预设距离阈值范围内是否存在不良信息；若存在不良信息，判定在所述历史膜层中所述目标位置的对应位置存在不良信息； 所述确定在所述历史膜层中所述目标位置的预设距离阈值范围内是否存在不良信息包括： 在当前膜层中存在行方向不良的情况下，确定在所述历史膜层中所述目标位置列方向上的预设距离阈值范围内是否存在不良信息，所述目标位置为一行；若存在不良信息，判定在所述历史膜层中所述目标位置的对应位置存在不良信息； 在当前膜层中存在列方向不良的情况下，确定在所述历史膜层中所述目标位置行方向上的预设距离阈值范围内是否存在不良信息，所述目标位置为一列；若存在不良信息，判定在所述历史膜层中所述目标位置的对应位置存在不良信息。

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