意法半导体股份有限公司;意法半导体研发(深圳)有限公司I·皮塞洛获国家专利权
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龙图腾网获悉意法半导体股份有限公司;意法半导体研发(深圳)有限公司申请的专利电子电路和测试电子电路的相应方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113253103B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110121031.2,技术领域涉及:G01R31/3185;该发明授权电子电路和测试电子电路的相应方法是由I·皮塞洛;王玉永;D·阿雷纳;刘启宇设计研发完成,并于2021-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本电子电路和测试电子电路的相应方法在说明书摘要公布了:一种组合电路块具有配置为接收输入数字信号的输入引脚和配置为根据所接收的输入数字信号提供输出数字信号的输出引脚。测试输入引脚接收测试输入信号。测试输出引脚根据所接收的测试输入信号提供测试输出信号。一组扫描寄存器选择性地耦合到组合电路块或彼此耦合,以便形成串行耦合在测试输入引脚和测试输出引脚之间的扫描寄存器的扫描链。该组扫描寄存器中的扫描寄存器由时钟信号进行时钟控制。至少一个输入寄存器耦合在测试输入引脚与扫描链的第一扫描寄存器之间。至少一个输入寄存器由时钟信号的反相副本进行时钟控制。
本发明授权电子电路和测试电子电路的相应方法在权利要求书中公布了:1.一种电子电路,包括: 组合电路块,具有:一组输入引脚,被配置为接收输入数字信号;和一组输出引脚,被配置为根据所接收的所述输入数字信号提供输出数字信号; 测试输入引脚,被配置为接收测试输入信号; 测试输出引脚,被配置为根据所述测试输入信号提供测试输出信号; 一组扫描寄存器,其中所述一组扫描寄存器中的扫描寄存器选择性地被耦合到所述组合电路块或被彼此耦合,以便形成串行耦合在所述测试输入引脚和所述测试输出引脚之间的扫描寄存器的扫描链,其中所述一组扫描寄存器中的所述扫描寄存器被时钟信号进行时钟控制;以及 至少一个输入寄存器,被耦合在所述测试输入引脚与所述扫描链的第一扫描寄存器之间,其中所述至少一个输入寄存器被所述时钟信号的反相副本进行时钟控制。
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