奕目(上海)科技有限公司李浩天获国家专利权
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龙图腾网获悉奕目(上海)科技有限公司申请的专利基于光场相机和二维相机的芯片检测系统及检测产线获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114689506B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011622480.7，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权基于光场相机和二维相机的芯片检测系统及检测产线是由李浩天;徐雨哲设计研发完成，并于2020-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于光场相机和二维相机的芯片检测系统及检测产线在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于光场相机和二维相机的芯片检测系统及检测产线，其利用二维相机检测芯片的锡球，利用光场相机采用芯片的金线检测方法检测芯片的金线。本发明将二维相机与光场相机进行组合，实现了对芯片的锡球与金线的先后有序的检测方式，得到芯片检测的整体解决方案。本发明利用二维相机拍摄检测得到的芯片的锡球，结合光场相机拍摄检测到的芯片的金线，能够实现无线、断线、脚起、线偏等缺陷。本发明通过分析线高能够检测芯片的金线的堕线缺陷。
本发明授权基于光场相机和二维相机的芯片检测系统及检测产线在权利要求书中公布了：1.一种芯片的金线检测方法，其特征在于，包括： 金线定位步骤：获取检测图像，在检测图像中定位得到成对的锡球，将成对的锡球之间的连线作为金线特征提取的基础，其中，所述连线为直线段； 金线特征提取步骤：在所述检测图像中，作所述直线段的垂线，从所述垂线上的全部点中将符合要求的点认为是金线上的点，记为金线特征点； 金线缺陷分析步骤：根据多个金线特征点得到金线延伸形状，根据金线延伸形状分析金线的第一类型缺陷； 利用光场相机检测芯片的金线。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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