华润微集成电路(无锡)有限公司徐飞获国家专利权
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龙图腾网获悉华润微集成电路(无锡)有限公司申请的专利实现电容容值计算的电路结构及其方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114689944B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011621414.8,技术领域涉及:G01R27/26;该发明授权实现电容容值计算的电路结构及其方法是由徐飞;陈佳俊;吴君磊;张钧;沈天平;潘敏设计研发完成,并于2020-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本实现电容容值计算的电路结构及其方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种实现电容容值计算的电路结构,包括检测控制电路模块、充电电阻R1、第一基准电容C1、待测电容C2、第三基准电容C3、第一开关S1、第二开关S2、第五开关S5和第六开关S6,检测控制电路模块接在充电电阻R1的两端,第一基准电容C1、第三开关S3和第一开关S1均与充电电阻R1的一端相连接,第一基准电容C1和第三开关S3的另一端均接地,充电电阻R1的另一端与第二开关S2、第五开关S5和第六开关S6相连接。本发明还涉及一种实现电容容值计算的方法。采用了本发明的实现电容容值计算的电路结构及其方法,可以去除电阻带来的误差,减小单个电容检测易受环境因素的影响,可以去除寄生电容对检测的影响,测量更为准确。
本发明授权实现电容容值计算的电路结构及其方法在权利要求书中公布了:1.一种利用实现电容容值计算的电路结构实现电容容值计算的方法,所述的电路结构包括: 检测控制电路模块、充电电阻()、第一基准电容()、待测电容()、第三基准电容()、第一开关()、第二开关()、第五开关()和第六开关(), 所述的检测控制电路模块接在充电电阻()的两端,所述的第一基准电容()、第三开关()和第一开关()均与充电电阻()的一端相连接,所述的第一基准电容()和第三开关()的另一端均接地,所述的充电电阻()的另一端与第二开关()、第五开关()和第六开关()相连接,所述的第五开关()的另一端通过待测电容()接地,所述的第六开关()的另一端通过第三基准电容()接地,所述的第一开关()和所述的第二开关()的另一端均与电压连接; 其特征在于,所述的方法包括以下步骤: (1)闭合第二开关(),通过充电电阻(R1)对第一基准电容()充电,到达阈值电压后闭合第三开关(),对地快速放电,在放电时间后断开第三开关()完成震荡,在周期内重复进行充放电,并记录振荡次数,打开第二开关(); (2)通过检测控制电路模块闭合第六开关()且打开第五开关(),闭合第一开关()对第三基准电容()进行充放电,记录周期内的振荡次数,打开第一开关(); (3)通过检测控制电路模块闭合第五开关()且打开第六开关(),闭合第一开关()对待测电容()进行充放电,记录周期内的振荡次数,打开第一开关(); (4)通过得到的振荡次数X1、X2和X3计算待测电容()的电容值。
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