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龙图腾网获悉中北大学申请的专利孔校直设备与方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN110345884B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910587358.1，技术领域涉及：G01B11/26；该发明授权孔校直设备与方法是由于大国;沈兴全;祝锡晶;辛志杰设计研发完成，并于2019-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本孔校直设备与方法在说明书摘要公布了：本发明属于机械制造领域，具体涉及孔校直设备与方法，检测孔的直线度并校直孔。包括专用加力器阵列或普通加力器、导向基准、探测装置、光学装置等。光线的长度大于或小于或等于工件的长度，在一次检测中，光发射器到光接收器之间的距离是不变的；光线从孔的外部或内部穿过；探测头轴线与光线不重合。测量以孔壁表面为基准，不是以几个点或一条母线为基准。孔校直方法的步骤为：第一步，带孔工件相对于导向基准移动，探测装置一端与孔壁接触，另一端绕支点摆动；光线及光斑随探测装置的摆动而变化；读数装置显示光斑位置变化或误差；第二步，加力器加力校直工件，第三步，必要时，重复检测或重复加力。本发明可获得较高的检测与校直精度。

本发明授权孔校直设备与方法在权利要求书中公布了：1.孔校直设备包括多个专用加力器、导向基准、驱动装置、探测装置、光学装置、支撑装置、读数装置，其特征在于：沿带孔工件表面的长度方向和圆周方向分布有多个专用加力器，形成专用加力器阵列；加力前测量各个加力部位偏离理想位置的误差；各个专用加力器施加力的大小与所在加力部位偏离理想位置的误差有关，误差大则施加的力大，误差小则施加的力小；测量各个部位的误差时，驱动装置或人手使带孔工件或探测装置相对于导向基准移动；测量过程中探测装置一端有支点并绕支点在空间内摆动，另一端与孔壁接触；光学装置的光线及光斑随探测装置的摆动而变化；读数装置显示光斑位置或其变换后的信息；光线从孔的外部或内部穿过；光学装置有光发射器、光线、光接收器，光线的长度大于工件的长度，在一次检测中，光发射器到光接收器之间的距离是不变的；带孔工件立式或卧式放置；探测装置采用对称式结构或非对称式结构；所述的导向基准有导向体，所述的驱动装置有滑动体，所述的探测装置有探测杆、探测头，所述的读数装置有显示器；驱动装置带动探测装置或带孔工件沿导向体运动；探测杆有支点并能够绕支点进行空间内的摆动，探测头位于探测杆上，与孔壁接触；探测杆能够随探测头与孔接触部位相对导向基准的变化而摆动；光发射器位于探测杆上，所发出的光线射向光接收器；探测杆位置的变化引起光发射器、光线和光接收器上光斑位置发生变化；显示器能够反映光斑位置的变化；光线从孔的外部或内部射向光接收器；探测杆是整体或分体式，分体式探测杆能够被拆开、拆开后能够被组装为整体；当光线从孔的内部射向光接收器时，探测头设有通孔，或者探测头与孔壁之间有间隙，光线穿越所述的通孔或间隙。

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