合肥康芯威存储技术有限公司余玉获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储芯片的测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120108483B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510559665.4，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储芯片的测试系统及测试方法是由余玉;许展榕设计研发完成，并于2025-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储芯片的测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，测试系统包括芯片测试座，用于安装存储芯片；存储芯片配置有多种工作模式；中央处理单元，用于在存储芯片处于每种工作模式下，将第一主机数据写入存储芯片中，并获取对应的写入放大系数；中央处理单元用于在存储芯片处于每种工作模式下，将第二主机数据写入存储芯片中，并根据第二主机数据的总数据量、每种工作模式对应的写入放大系数，计算存储芯片可写入的总数据量；其中，第二主机数据的总数据量大于等于存储芯片的存储空间。本发明可节省获取存储芯片的使用寿命的时间和成本。
本发明授权一种存储芯片的测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括： 芯片测试座，用于安装存储芯片；所述存储芯片配置有多种工作模式； 中央处理单元，用于在所述存储芯片处于每种工作模式下，将第一主机数据写入所述存储芯片中，并获取对应的写入放大系数； 所述中央处理单元用于在所述存储芯片处于每种工作模式下，将第二主机数据写入所述存储芯片中，并根据所述第二主机数据的总数据量、每种工作模式对应的写入放大系数，计算所述存储芯片可写入的总数据量； 其中，所述第二主机数据的总数据量大于等于所述存储芯片的存储空间。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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