恒美光电股份有限公司曹阳获国家专利权
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龙图腾网获悉恒美光电股份有限公司申请的专利缺陷检测设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223180102U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422315055.3，技术领域涉及：G01N21/95；该实用新型缺陷检测设备是由曹阳;谢佳;严兵华;施明志;郭育诚;张均铭设计研发完成，并于2024-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检测设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种缺陷检测设备，缺陷检测设备包括：一光处理装置，包括第一光处理单元和第二光处理单元，第一光处理单元设置于线光源装置和待检膜之间，第二光处理单元设置于待检膜和相机装置之间；一移位装置，和光处理装置连接，用于使光处理装置在第一位置状态。其中：所述线光源装置用于发射光线，所述第一光处理单元用于使从所述线光源装置出射的部分透射光变为第一线偏振光，所述待检膜用于使所述第一线偏振光变为圆偏振光，所述第二光处理单元用于对经过的所述圆偏振光的可见光区全波长进行补偿，所述相机装置用于接收经过所述第二光处理单元后的所述圆偏振光。本申请提供的缺陷检测设备实现了对液晶补偿膜原膜的检测。
本实用新型缺陷检测设备在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测设备，包括线光源装置和相机装置，所述线光源装置和所述相机装置分别设置于待检膜相背的两侧；其特征在于，还包括： 一光处理装置，包括第一光处理单元和第二光处理单元，所述第一光处理单元设置于所述线光源装置和所述待检膜之间，所述第二光处理单元设置于所述待检膜和所述相机装置之间； 一移位装置，和所述光处理装置连接，用于使所述光处理装置在第一位置状态； 其中：所述线光源装置用于发射光线，所述第一光处理单元用于使从所述线光源装置出射的部分透射光变为第一线偏振光，所述待检膜用于使所述第一线偏振光变为圆偏振光，所述第二光处理单元用于对经过的所述圆偏振光的可见光区全波长进行补偿，所述相机装置用于接收经过所述第二光处理单元后的所述圆偏振光。
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