奕瑞新材料科技(太仓)有限公司谢瑞军获国家专利权
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龙图腾网获悉奕瑞新材料科技(太仓)有限公司申请的专利一种闪烁体阵列温变性能的测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223180413U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421698655.6，技术领域涉及：G01T7/00；该实用新型一种闪烁体阵列温变性能的测试装置是由谢瑞军;王豆豆;郑霄;王伟;孙磊;刘柱设计研发完成，并于2024-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种闪烁体阵列温变性能的测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种测试闪烁体阵列温变性能的装置，属于闪烁体阵列控温测温检测装置技术领域，包括：底板、加热片、测试板、测温探头、PLC系统；所述加热片设置在底板上；所述测试板盖设在加热片上，测试板中间设有FOP探测器，所述FOP探测器中间设置闪烁体阵列，所述闪烁体阵列下方设有CMOS探测器；所述测温探头设置在测试板上，在FOP区域两侧；所述PLC系统接收测温探头信号，并控制加热片的加热温度，保证工作温度保持稳定。本实用新型结构简单，使用方便，通过温控系统程序控制PLC系统自动实现温度控制，均衡保证测试装置各区域稳定，使其达到平衡，保证设备测试精度，提升测试性能准确率和测试效率。
本实用新型一种闪烁体阵列温变性能的测试装置在权利要求书中公布了：1.一种闪烁体阵列温变性能的测试装置，其特征在于：包括： 底板1； 加热片2，所述加热片2设置在底板1上； 测试板3，所述测试板3盖设在加热片2上，测试板3中间设有FOP探测器31，所述FOP探测器31中间设置闪烁体阵列32，所述闪烁体阵列32下方设有CMOS探测器； 测温探头4，所述测温探头4设置在测试板3上，在FOP探测器31两侧； PLC系统，所述PLC系统接收测温探头4信号，并控制加热片2的加热温度，保证工作温度保持稳定。
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