中国地质科学院地质研究所车晓超获国家专利权
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龙图腾网获悉中国地质科学院地质研究所申请的专利一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118913813B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410830187.1，技术领域涉及：G01N1/28；该发明授权一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法是由车晓超设计研发完成，并于2024-06-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种岩石薄片样品二次离子质谱铀‑铅定年方法，包括以下步骤：S1，样品扫描：识别样品中的定年矿物所在位置；S2，样品切割：将样品中的定年矿物区域切割提取，形成圆形薄片；S3，样品制靶，对提取出的圆形薄片进行制靶；S4，样品抛光，对薄片靶进行抛光，并镀导电膜；S5，二次扫描，对定年矿物所在区域进行扫描拍摄；S6，样品清洗，对薄片靶进行清洗并镀金处理；S7，对样品靶进行铀‑铅定年。本发明可以有效解决样品靶与标样靶物质性质差异导致的定年结果不准确的问题；避免样品和标在在同一样品靶上，抛光导致的样品损失；可保留样品原始的岩石矿物信息，对样品进行微区原位定年，获取保存有更多地质意义的定年结果。
本发明授权一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法在权利要求书中公布了：1.一种岩石薄片样品二次离子质谱铀-铅定年方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，样品扫描：识别样品中的定年矿物所在位置； S2，样品切割：将样品中的定年矿物区域切割提取，形成圆形薄片； S3，样品制靶，对提取出的圆形薄片进行制靶； S4，样品抛光，对薄片靶进行抛光，并镀导电膜； S5，二次扫描，对定年矿物所在区域进行扫描拍摄； S6，样品清洗，对薄片靶进行清洗并镀金处理； S7，对样品靶进行铀-铅定年， 其中，所述S7包括以下步骤： S71，使用不同的积分时间测试标准样品的引导峰含量，记录峰值数据； S72，使用步骤S5中的电子图像进行对比，确定样品位置，并通过引导峰进行扫描，对比步骤S71的峰值数据，如未达到峰值，则通过样品台精细移动离子束位置，后再次通过引导峰进行扫描，寻找最大值位置。
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