深圳市微特精密科技股份有限公司刘敏获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市微特精密科技股份有限公司申请的专利一种用于芯片管脚间的开路或短路测试方法、系统及平台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117420419B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311548092.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于芯片管脚间的开路或短路测试方法、系统及平台是由刘敏;程亚磊;罗辉;肖松设计研发完成，并于2023-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于芯片管脚间的开路或短路测试方法、系统及平台在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于芯片管脚间的开路或短路测试方法、系统及平台，通过方法创建至少一个与芯片管脚间网络点连接关系相对应的矩阵；遍历所述矩阵中所有网络点之间连接关系，并生成与网络点相对应的测试路径；根据所述的测试路径，生成与所述测试路径相对应且用于测试芯片管脚间开路或短路的测试驱动数据；获取与测试驱动数据相对应的电平状态数据，并将根据所述电平状态数据实时判定芯片管脚间的连接关系；以及与所述方法相应的系统、平台，可以提高测试路径分析效率和开短路的测试效率。
本发明授权一种用于芯片管脚间的开路或短路测试方法、系统及平台在权利要求书中公布了：1.一种用于芯片管脚间的开路或短路测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤： 创建至少一个与芯片管脚间网络点连接关系相对应的矩阵； 遍历所述矩阵中所有网络点之间连接关系，并生成与网络点相对应的测试路径；其中，还包括：整合合并处理所述测试路径，并生成相对应且具有唯一ID的测试路径；创建至少一个第五数组，并将所述具有唯一ID的测试路径置于所述第五数组中；所述第五数组为键值对数组； 根据所述的测试路径，生成与所述测试路径相对应且用于测试芯片管脚间开路或短路的测试驱动数据；其中，还包括：获取第五数组中的行数据，并创建至少一个第六数组；所述第六数组用于存储测试驱动数据；赋值处理所述第六数组，并遍历所述第五数组，同时二进制化处理所述第五数组中的键数据； 获取与测试驱动数据相对应的电平状态数据，并将根据所述电平状态数据实时判定芯片管脚间的连接关系；其中，所述连接关系为芯片管脚间的开路连接或短路连接。
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