上海航天测控通信研究所李贝贝获国家专利权
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龙图腾网获悉上海航天测控通信研究所申请的专利一种准光学器件辐射性能评估装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116222760B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310391794.8，技术领域涉及：G01J1/00；该发明授权一种准光学器件辐射性能评估装置及方法是由李贝贝;钱志鹏;谢振超;龙澄;邙晓斌;李向芹设计研发完成，并于2023-04-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种准光学器件辐射性能评估装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种准光学器件辐射性能评估装置及方法，其装置包括信号发射组件和信号接收组件，其方法包括产生的高斯波束信号以预设入射角向被测器件传播；传播至被测器件的高斯波束信号一部分被被测器件反射出去，另一部分透射出被测器件；分别接收反射出去的高斯波束信号和透射出的高斯波束信号，并分别获取反射辐射场数据和透射辐射场数据；求取被测器件的传输辐射性能影响因数和反射辐射性能影响因数。本发明通过高斯波束信号经过被测器件进行透射和反射，对透射和反射的高斯波束信号进行采集，将测试场数据与标准场数据进行相关性分析计算，通过电磁场的耦合系数计算分析辐射性能影响因数，具有简单易执行、计算快捷、普适性强的技术效果。
本发明授权一种准光学器件辐射性能评估装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种准光学器件辐射性能评估装置，其特征在于，包括信号发射组件、信号接收组件和被测器件； 所述信号发射组件产生的高斯波束信号以预设入射角向所述被测器件传播； 传播至所述被测器件的高斯波束信号一部分被被测器件反射出去，另一部分透射出被测器件； 所述信号接收组件的扫描面分别接收反射出去的高斯波束信号和透射出的高斯波束信号，并分别获取反射辐射场数据和透射辐射场数据； 根据反射辐射场数据、透射辐射场数据、基准反射辐射场数据和基准透射辐射场数据求取被测器件的传输辐射性能影响因数和反射辐射性能影响因数。
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