财团法人工业技术研究院马天彦获国家专利权
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龙图腾网获悉财团法人工业技术研究院申请的专利光学穿透式显示器的校正方法与校正系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116500785B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211583168.0,技术领域涉及:G02B27/01;该发明授权光学穿透式显示器的校正方法与校正系统是由马天彦设计研发完成,并于2022-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学穿透式显示器的校正方法与校正系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种光学穿透式显示器的校正方法,包括:使用影像感测装置固定于用户的眼睛观看光学穿透式显示器的标准位置,其中影像感测装置用以拍摄光学穿透式显示器所显示的虚拟影像及外界环境的实体影像;以及使用影像感测装置与多个实体校正图样之间的外部参数及虚拟相机与多个实体校正图样之间的外部参数计算出影像感测装置与虚拟相机之间的外部参数。一种校正系统亦被提出。
本发明授权光学穿透式显示器的校正方法与校正系统在权利要求书中公布了:1.一种光学穿透式显示器的校正方法,其特征在于,包括: 使用影像感测装置固定于用户的眼睛观看光学穿透式显示器的标准位置,其中所述影像感测装置用以拍摄所述光学穿透式显示器所显示的虚拟影像及外界环境的实体影像; 使用所述影像感测装置拍摄所述光学穿透式显示器所显示的虚拟校正图样,并取得所拍摄到的所述虚拟校正图样的多个第一特征点影像的坐标值; 使用所述多个第一特征点影像的坐标值及所述虚拟校正图样的第一特征点的坐标值计算出所述影像感测装置的影像平面转换至所述光学穿透式显示器的影像平面的投影单应性矩阵; 关闭所述光学穿透式显示器,使用所述影像感测装置在不同角度拍摄多个实体校正图样影像,所述实体校正图样具有多个第二特征点; 使用所述多个实体校正图样影像中的多个第二特征点影像的坐标及所述实体校正图样上的多个第二特征点计算出所述影像感测装置的内部参数,以及所述影像感测装置与所述多个实体校正图样之间的外部参数; 使用所述投影单应性矩阵将所述多个实体校正图样影像中的多个特征点影像的坐标转换为所述光学穿透式显示器的影像平面的投影点的坐标; 使用所述多个实体校正图样影像中转换到所述光学穿透式显示器影像平面的多个投影点的坐标计算出所述光学穿透式显示器的虚拟相机内部参数,以及所述虚拟相机与所述多个实体校正图样之间的外部参数;以及 使用所述影像感测装置与所述多个实体校正图样之间的外部参数及所述虚拟相机与所述多个实体校正图样之间的外部参数计算出所述影像感测装置与所述虚拟相机之间的外部参数。
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