深圳市华力宇电子科技有限公司禹乾勋获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市华力宇电子科技有限公司申请的专利基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115659892B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211263117.X，技术领域涉及：G06F30/39；该发明授权基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法是由禹乾勋设计研发完成，并于2022-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法，包括：提供晶圆图像，所述晶圆图像被划分为多个芯片区域，所述芯片区域的尺寸规格具有特殊小数点；确定晶圆图像的中心点的坐标位置；基于所述特殊小数点形成的舍入误差，计算参考区域；基于所述参考区域，扫描晶圆；建立晶圆芯片模型。通过采用上述技术方案，由于参考区域是基于芯片尺寸具有特殊小数点而产生的舍入误差而计算形成的，因此在参考区域内的芯片区域在自动建立时不会产生较大的舍入误差，从而避免由于误差导致的探针台报错情况。
本发明授权基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法，其特征在于，包括： S1、提供晶圆图像，所述晶圆图像被划分为多个芯片区域，所述芯片区域的尺寸规格具有特殊小数点； S2、确定晶圆图像的中心点的坐标位置； S3、基于所述特殊小数点形成的舍入误差，计算参考区域； S4、扫描所述参考区域； S5、建立晶圆芯片模型； 其中，步骤S2包括： 基于计数保留法处理所述特殊小数点，确定由此产生的舍入误差； 将探针台所允许的最大扫描误差与所述舍入误差相除，确定扫描的芯片数量； 基于所述扫描的芯片数量的一半，以所述中心点为原点，形成所述参考区域。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市华力宇电子科技有限公司，其通讯地址为：518128 广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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