中国计量大学周鹏威获国家专利权
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龙图腾网获悉中国计量大学申请的专利用于计算层析成像光谱仪的超表面全息光栅及其设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115657301B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210971825.2，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权用于计算层析成像光谱仪的超表面全息光栅及其设计方法是由周鹏威;周嘉旻设计研发完成，并于2022-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于计算层析成像光谱仪的超表面全息光栅及其设计方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用于计算层析成像光谱仪的超表面全息光栅及其设计方法。首先选择衍射图样、系统焦距以及探测器靶面以确定超表面全息光栅的初始结构参数，然后根据初始结构参数获得相位补偿分布，再使用仿真软件对超表面全息光栅的小周期单元仿真，获得相位补偿与表面单元结构直径的关系式，最后通过关系式将相位分布转化为超表面全息光栅阵列结构。通过该方法设计得到的超表面全息光栅可以实现光谱仪的微小化并产生较好的衍射效果。本设计方法利用相位优化算法将超表面全息光栅离散的相位分布转化为连续相位分布，提高了仿真超表面全息光栅远场响应的准确度。
本发明授权用于计算层析成像光谱仪的超表面全息光栅及其设计方法在权利要求书中公布了：1.用于计算层析成像光谱仪的超表面全息光栅的设计方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：选择衍射图样、系统焦距以及探测器靶面以确定超表面全息光栅的初始结构参数； S2：根据所述初始结构参数、传输相位原理以及相位全息图优化算法获得相位补偿分布； S3：根据初始结构参数使用仿真软件对超表面全息光栅的小周期单元仿真，获得相位补偿与表面单元结构直径的关系式； S4：根据相位补偿与表面单元结构直径的关系式，将相位分布转化为超表面全息光栅阵列结构。
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