宁波永新光学股份有限公司郑驰获国家专利权
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龙图腾网获悉宁波永新光学股份有限公司申请的专利一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115187508B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210597431.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法是由郑驰;崔志英;张琦;王益平;毛昊阳;邱元芳设计研发完成，并于2022-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法，以开源计算机视觉库中的各种函数为辅助方法，先阈值化处理原始图像，获得污渍的初步掩膜图，再使用多尺度核遍历计算不同尺度均值滤波器下显微图像对应的最小灰度集合和最大灰度集合，然后剔除两组集合中的最小值与最大值，对剩余数据各自做加权平均后，得到全局最小灰度均值和全局最大灰度均值，最终计算出照度均匀度，既能更好地剔除污渍，也能减轻未去除污渍对最小、最大灰度值的影响，进而提升照度均匀度的检测准确度，为评价显微镜下的照度均匀度提供更客观的检测方法。
本发明授权一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法，其特征在于包含以下步骤： 步骤1：读取采集的显微图像，记为图A； 步骤2：计算出与图A相对应的掩膜图，记为图M； 步骤3：调用OpenCV的bitwise_and函数对图A和图M做“与”操作，得到掩膜后的灰度图像，记为图Amask； 步骤4：计算图Amask的最小灰度值和最大灰度值，分别记为Vmin、Vmax，包括：使用多尺度核遍历计算不同尺度均值滤波器下显微图像对应的最小灰度集合和最大灰度集合，然后剔除两组集合中的最小值与最大值，对剩余数据各自做加权平均后，得到图Amask的最小灰度值和最大灰度值； 步骤5：调用OpenCV的mean函数计算图Amask的灰度均值，记为Gavg； 步骤6：使用以下公式计算图Amask的照度均匀度U，照度均匀度U即为宽场显微镜下图A的照度均匀度U：。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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