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龙图腾网获悉深圳市华汉伟业科技有限公司申请的专利一种信息定量的缺陷检测方法及图像检测装置、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115018772B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210563971.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种信息定量的缺陷检测方法及图像检测装置、存储介质是由黄涛;黄淦;杨洋;林泽伟;吴创廷;翟爱亭设计研发完成，并于2022-05-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种信息定量的缺陷检测方法及图像检测装置、存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种信息定量的缺陷检测方法及图像检测装置、存储介质，其中的缺陷检测方法包括：对待测物体的第一图像进行初始的缺陷检测以得到缺陷初始区域，扩展缺陷初始区域并基于扩展区域形成第二图像，对第二图像进行曲面离散化处理以得到连续光滑的理想曲面模型，根据理想曲面模型还原得到理想曲面图像，将理想曲面图像与第二图像进行差分处理以得到缺陷增强图像，根据缺陷增强图像获得待测物体的表面受检区域内的缺陷定位信息和缺陷深度信息。技术方案能够提供像素级的缺陷检测精度，通过还原理想曲面图像和差分处理能够增强缺陷区域的定位精度，在统计缺陷定量指标时，可提供更精确的缺陷三维信息，有助于待测物体表面缺陷的严格判定。

本发明授权一种信息定量的缺陷检测方法及图像检测装置、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种信息定量的缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取待测物体的表面受检区域的第一图像； 对所述第一图像进行初始的缺陷检测，得到缺陷初始区域； 扩展所述缺陷初始区域以得到扩展区域，并基于所述扩展区域形成第二图像； 将所述第二图像输入预设的离散化几何模型；所述离散化几何模型为抛物曲面模型、平面模型或柱形曲面模型； 利用所述离散化几何模型将所述第二图像所在的曲面离散为对应的曲线模组，并根据所述曲线模组建立连续光滑的理想曲面模型；其中，连续光滑的理想曲面模型的建立包括： 利用所述离散化几何模型将所述第二图像所在的曲面进行X向的曲面离散化，得到关于X向的连续光滑的曲面模型Zx； 利用所述离散化几何模型将所述第二图像所在的曲面进行Y向的曲面离散化，得到关于Y向的连续光滑的曲面模型Zy； 对所述关于X向的连续光滑的曲面模型Zx和所述关于Y向的连续光滑的曲面模型Zy进行加权融合处理，建立得到连续光滑的理想曲面模型； 关于加权融合处理用公式表示为 Zxy＝δx·Zx+δy·Zy； 其中，δx、δy分别为X向、Y向的权重函数，Zx表示X向的连续光滑的曲面模型，Zy表示Y向的连续光滑的曲面模型； 根据所述理想曲面模型还原得到理想曲面图像； 将所述理想曲面图像与所述第二图像进行差分处理，得到缺陷增强图像； 根据所述缺陷增强图像获得所述待测物体的表面受检区域内的缺陷定位信息和缺陷深度信息。

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